电介质在集成电路中主要提供器件、栅极和金属互连间的绝缘，选择的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通过热氧化、化学气相沉积和原子层沉积法的方法获得。如果按照压力来区分的话，热氧化一般为常压氧化工艺，快速热氧化等。化学气相沉积法一般有低压化学气相沉积氧化工艺，半大气压气相沉积氧化工艺，增强等离子体化学气相层积等。在热氧化工艺中，主要使用的氧源是气体氧气、水等，而硅源则是单晶硅衬底或多晶硅、非晶硅等。氧气会消耗硅（Si），多晶硅（Poly）产生氧化，通常二氧化硅的厚度会消耗0.54倍的硅，而消耗的多晶硅则相对少些。这个特性决定了热氧化工艺只能应用在侧墙工艺形成之前的氧化硅薄膜中。PECVD法具有灵活性高、沉积温度低、重复性好等特点，广泛应用在集成电路制造领域中介质材料的沉积。七彩真空镀膜真空镀膜涂料
衡量沉积质量的主要指标有以下几项：指标就是均匀度。顾名思义，该指标就是衡量沉积薄膜厚度均匀与否的参数。薄膜沉积和刻蚀工艺一样，需将整张晶圆放入沉积设备中。因此，晶圆表面不同角落的沉积涂层有可能厚度不一。高均匀度表明晶圆各区域形成的薄膜厚度非常均匀。第二个指标为台阶覆盖率（StepCoverage）。如果晶圆表面有断层或凹凸不平的地方，就不可能形成厚度均匀的薄膜。台阶覆盖率是考量膜层跨台阶时，在台阶处厚度损失的一个指标，即跨台阶处的膜层厚度与平坦处膜层厚度的比值。广东真空镀膜仪薄膜中存在的各种缺陷是产生本征应力的主要原因，这些缺陷一般都是非平衡缺陷，但需要外界给予活化能。
PECVD技术是在低气压下，利用低温等离子体在工艺腔体的阴极上（即样品放置的托盘）产生辉光放电，利用辉光放电（或另加发热体）使样品升温到预定的温度，然后通入适量的工艺气体，这些气体经一系列化学反应和等离子体反应，在样品表面形成固态薄膜。在反应过程中，反应气体从进气口进入炉腔，逐渐扩散至样品表面，在射频源激发的电场作用下，反应气体分解成电子、离子和活性基团等。这些分解物发生化学反应，生成形成膜的初始成分和副反应物，这些生成物以化学键的形式吸附到样品表面，生成固态膜的晶核，晶核逐渐生长成岛状物，岛状物继续生长成连续的薄膜。在薄膜生长过程中，各种副产物从膜的表面逐渐脱离，在真空泵的作用下从出口排出。
真空镀膜技术属于表面处理技术的一类，应用非常广。主要应用有一下几类：光学膜:用于CCD、CMOS中的各种滤波片，高反镜。功能膜:用于制造电阻、电容，半导体薄膜，刀具镀膜，车灯，车灯罩，激光，太阳能等。装饰膜:手机/家电装饰镀膜，汽车标牌，化妆品盒盖，建筑装饰玻璃、汽车玻璃，包装袋。真空镀膜对真空的要求非常严格，根据不同的真控制可以划分为低真空（1至1E-5Torr），中真空（1E-5至1E-6Torr），高真空（1E-6至1E-8Torr），超高真空（低于1E-9Torr），针对不同的真空有多种测量方式，电容膜片（CDG）、导热（Piriani）、热阴极电离（HCIG)、粘度（自旋转子）等。镀膜后的零件具有优异的导电性能。
LPCVD设备中重要的工艺参数之一是反应温度，因为它直接影响了反应速率、反应机理、反应产物、反应选择性等方面。一般来说，反应温度越高，反应速率越快，沉积速率越高；反应温度越低，反应速率越慢，沉积速率越低。但是，并不是反应温度越高越好，因为过高的反应温度也会带来一些不利的影响。例如，过高的反应温度会导致气体前驱体过早分解或聚合，从而降低沉积效率或增加副产物；过高的反应温度会导致衬底材料发生热损伤或热扩散，从而降低衬底质量或改变衬底特性；过高的反应温度会导致薄膜材料发生结晶或相变，从而改变薄膜结构或性能。使用CVD的方式进行沉积氧化氮化硅(SiOxNy)与氮化硅(SiNx)能有效提高钝化发射极和后极电池效率。广东真空镀膜仪
真空镀膜技术在汽车行业中应用普遍。七彩真空镀膜真空镀膜涂料
电子束蒸发蒸镀如钨(W）、钼（Mo）等高熔点材料，需要在坩埚的结构上做一定的改进。高熔点的材料采用锭或者颗粒状放在坩埚当中，因为水冷坩埚导热过快，材料难以达到其蒸发的温度。经过实验的验证，蒸发高熔点的材料可以用薄片来蒸镀，将1mm材料薄片架空于碳坩埚上沿，薄片只能通过坩埚边沿来导热，散热速率慢，有利于达到蒸发的熔点。采用此方法可满足蒸镀50nm以下的材料薄膜。PVD(气相沉积)镀膜技术主要分为三类，真空蒸发镀膜、真空溅射镀和真空离子镀膜。对应于PVD技术的三个分类，相应的真空镀膜设备也就有真空蒸发镀膜机、真空溅射镀膜机和真空离子镀膜机这三种。近十多年来，真空离子镀膜技术的发展是快的，它已经成为当今先进的表面处理方式之一。我们通常所说的PVD镀膜，指的就是真空离子镀膜；通常所说的PVD镀膜机，指的也就是真空离子镀膜机。七彩真空镀膜真空镀膜涂料
