反应溅射是在溅射镀膜中，引入某些活性反应气体与溅射成不同于靶材的化合物薄膜。反应气体有Ｏ2、Ｎ2、ＣＨ4等。反应溅射的靶材可以是纯金属，也可以是化合物，反应溅射也可采用磁控溅射。如氮化铝薄膜可以采用磁控溅射铝靶材，气体通入一比一的氩气和氮气，反应溅射的优点是比直接溅射氮化铝靶材时间更快。磁控溅射可改变工作气体与氩气比例从而进行反应溅射，例如使用Si靶材，通入一定比例的N2，氩气作为工作气体，而氮气作为反应气体，能得到SiNx薄膜。通入氧气与氮气从而获得各种材料的氧化物与氮化物薄膜，通过改变反应气体与工作气体的比例也能对溅射速率进行调整，薄膜内组分也能相应调整。但反应气体过量时可能会造成靶中毒。化学气相沉积技术是把含有构成薄膜元素的单质气体或化合物供给基体。来料真空镀膜
对于PECVD如果成膜质量差，则主要由一下几项因素造成：1.样片表面清洁度差，检查样品表面是否清洁。2.工艺腔体清洁度差，清洗工艺腔体。3.样品温度异常，检查温控系统是否正常，校准测温热电偶。4.膜淀积过程中压力异常，检查腔体真空系统漏率。5.射频功率设置不合理，检查射频电源，调整设置功率。影响PECVD工艺质量的因素主要有以下几个方面：1.起辉电压：间距的选择应使起辉电压尽量低，以降低等离子电位，减少对衬底的损伤。2.极板间距和腔体气压：极板间距较大时，对衬底的损伤较小，但间距不宜过大，否则会加重电场的边缘效应，影响淀积的均匀性。反应腔体的尺寸可以增加生产率，但是也会对厚度的均匀性产生影响。3.射频电源的工作频率，射频PECVD通常采用50kHz~13.56MHz频段射频电源，频率高，等离子体中离子的轰击作用强，淀积的薄膜更加致密，但对衬底的损伤也比较大。揭阳UV真空镀膜热氧化与化学气相沉积不同，她是通过氧气或水蒸气扩散到硅表面并进行化学反应形成氧化硅。
电子束蒸发法是真空蒸发镀膜中一种常用的方法，是在高真空条件下利用电子束激发进行直接加热蒸发材料，是使蒸发材料由固体转变为气化并向衬底输运，在基底上凝结形成薄膜的方法。在电子束加热装置中，被加热的材料放置于底部有循环水冷的坩埚当中，可避免电子束击穿坩埚导致仪器损坏，而且可避免蒸发材料与坩埚壁发生反应影响薄膜的质量，因此，电子束蒸发沉积法可以制备高纯薄膜。在微电子与光电子集成中，薄膜的形成方法主要有两大类，及沉积和外延生长。沉积技术分为物理沉积、化学沉积和混合方法沉积。蒸发沉积（热蒸发、电子束蒸发）和溅射沉积是典型的物理方法；化学气相沉积是典型的化学方法；等离子体增强化学气相沉积是物理与化学方法相结合的混合方法。薄膜沉积过程，通常生成的是非晶膜和多晶膜，沉积部位和晶态结构都是随机的，而没有固定的晶态结构。
沉积工艺也可分为化学气相沉积和物理的气相沉积。CVD的优点是速率快，且由于在晶圆表面发生化学反应，拥有台阶覆盖率。但从上述化学方程式中不难看出，其缺点就是产生副产物废气。在半导体制程中，很难将这些废气完全排出，难免会参杂些不纯物质。因此，CVD多用于不需要精确把控材料特性的沉积涂层，如沉积各种消耗性的膜层（硬掩模）或各种厚绝缘薄膜等。PVD则向晶圆表面直接轰击要沉积的材料。也就是说，如果想在晶圆表面沉积A物质，则需将A物质气化后，使其沉积到晶圆表面。常用的PVD方法有溅射，这在刻蚀工艺中也曾涉及过。在这种方法中，我们先向A物质靶材轰击离子束（主要采用惰性气体），使A物质粒子溅射出来，再将脱落的粒子转移至硅片表面，并形成薄膜。PVD的优点是无副产物，沉积薄膜的纯度高，且还可以沉积钨（W）、钴（Co）等无反应能力的纯净物材料。因此，多用于纯净物的金属布线。镀膜层厚度可通过调整参数精确控制。
衡量沉积质量的主要指标有以下几项：指标就是均匀度。顾名思义，该指标就是衡量沉积薄膜厚度均匀与否的参数。薄膜沉积和刻蚀工艺一样，需将整张晶圆放入沉积设备中。因此，晶圆表面不同角落的沉积涂层有可能厚度不一。高均匀度表明晶圆各区域形成的薄膜厚度非常均匀。第二个指标为台阶覆盖率（StepCoverage）。如果晶圆表面有断层或凹凸不平的地方，就不可能形成厚度均匀的薄膜。台阶覆盖率是考量膜层跨台阶时，在台阶处厚度损失的一个指标，即跨台阶处的膜层厚度与平坦处膜层厚度的比值。热氧化是在一定的温度和气体条件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和湿法氧化。肇庆真空镀膜技术
真空镀膜技术在汽车行业中应用普遍。来料真空镀膜
涂敷在透明光学元件表面、用来消除或减弱反射光以达增透目的的光学薄膜。又称增透膜。简单的减反射膜是单层介质膜，其折射率一般介于空气折射率和光学元件折射率之间，使用普遍的介质膜材料为氟化镁。减反射膜的工作原理是基于薄膜干涉原理。入射光在介质膜两表面反射后得两束相干光，选择折射率适当的介质膜材料，可使两束相干光的振幅接近相等，再控制薄膜厚度，使两相干光的光程差满足干涉极小条件，此时反射光能量将完全消除或减弱。反射能量的大小是由光波在介质膜表面的边界条件确定，适当条件下可完全没有反射光或只有很弱的反射光。
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