IGAR12-L0是一款数字式、高精度的双色测温仪(也称比色测温仪)，配备光纤测头，用于非接触式温度测量;该测温仪采用双色测温技术(比色法)。与普通的单色红外测温仪不同，比色测温是采用两个相邻的波段进行比色测温，大优势是测量结果在很宽的温度范围内不受被测物体本身辐射系数变化的影响，也不受测量视域内灰尘、水蒸气及其它污染物的影响，测量物体可小于光斑尺寸;宽泛的应用于感应加热、炼钢、激光应用、焊接、金属加工、锻造、铸造等领域。
IGAR12-LO双色测温仪可切换至单色模式，与传统的测温仪一样进行测温。金属模式下还可用未知的K-系数(坡度)测量金属和合金。该仪器配备了一根光纤(可达30米)，在无制冷的条件下可以耐250℃的环境温度，同时还不会受到电磁干扰的影响。根据不同的测量距离，有两个不同的测头可供选择，可实现极小的光斑尺寸。响应时间短，才需2童秒，可实现快速加热过程中的测量。此外，所有设置都能在该仪器上进行操作。所有参数也可通过电脑和标准操作软件InfraWin进行设置。这一软件还具有在线温度显示和数据存储的功能。 明策红外测温仪，功能齐全，可在航空航天领域进行温度监测。浙江高精度红外测温仪报价
ISR 6-T Advanced红外测温仪是一款集成比色(双色)红外测温仪和红外成像仪的测温和成像仪器;它能够精确测量视窗中心点的温度，并能够对视窗内的被测目标物体进行红外成像;它是在1SR6Advanced比色红外测温仪的基础上，集成了红外热成像仪，能够通过模拟视频信号输出接口，采用USB连接到电脑上，在Infrawin软件上形成红外热图像和温度信息，我们能够在红外图像中对感兴趣的ROI区域进行红外成像分析;可用于金属熔炼、真空炉、涂层、感应加热、玻璃行业、半导体行业等。浙江高精度红外测温仪报价明策红外测温仪，操作便捷，测温范围大，可满足农业生产的温度测量需求。
IMPACIN5红外测温仪是一款双线制、紧凑型、高精度的红外测温仪，非常适合用于非接触式测量金属材料、非金属材料、石墨、陶瓷、喷漆、涂层或阳极氧化处理金属的温度;一体式的设计、坚固的不锈钢外壳、IP65防护标准，在恶出的工况下依然能长期稳定工作。除了IN5基本型外，还推出了IN5plus型号;相比基本型号，plus型号测温仪模拟信号为0..20mA或4..20mA，可切换;还增加了可选RS232或RS485数字接口。IN5-Lplus型号配置了更好测量视域的光学镜头，提供更好的光学系数比，用于远距离、小目标物体的测量。IN5-Hplus型号具有0.01秒的超快速响应速度，用于需要高速测量场合。为了满足各种测量距离和大小的目标物体，有三种镜头可选，可以根据实际测量距离、目标物尺寸来选择合适的镜头。配有用于电气装置的连接头，连接电缆线从2米到30米之间根据需要选择。
IS50-L0plus红外测温仪是一款数字式、高精度的红外测温仪，配备了光纤镜头，用于非接触式测量金属、非金属、石墨、陶瓷、复合材料、熔融金属、焊接等各种材料和工艺的温度。根据不同的测量距离，有两个不同的测头可供选择，可实现极小的光斑尺寸。采用激光瞄准方式。响应时间快，小于1毫秒，可用于快速动态加热过程的测量。 该测温仪还配备了一个显示屏，用以显示测量模式下的当前温度。此外，所有通过仪器上的集成键盘进行设置的参数都可在屏幕上读取:该仪器还配置了RS232或RS485数字接口，温度可通过数字接口连接电脑，采用随机的InfraWin软件对系统实时动态跟踪测量并存储在电脑中，还可对参数进行设置。明策红外测温仪，操作简单，测温准确，适用于学校实验室的温度测量。
Photrix系列是我们精确的测温仪，拥有行业内较好的信噪比，可测量低温，实现小光斑尺寸以及快速响应时间（1毫秒）。标准镜头配置有5种光谱响应（波长），模拟输出(用户可选4-20mA或0-10V)、带有镜头吹扫的保护硬件以及多通道接口模块（单个数字信号可使用8个传感器）可供选择。标准系统包括所有必要的电缆、电源、电脑接口软件以及存档/校正系统。
典型应用
具有低辐射率的金属；
铝；
铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能沉积；
非晶硅薄膜沉积；
激光加热过程；
直拉晶体生长；
光纤拉丝；
感应加热。 明策高精度红外测温仪IPE140，具备高分辨率测温，在铁路运输行业保障安全。浙江高精度红外测温仪报价
明策红外测温仪，小巧便携，测温快速，适用于美容美发行业的工具温度检测。浙江高精度红外测温仪报价
UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。
蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率主要特点使用紫外波段直接测量GaN层温度；
使用脉冲光源实时快速测量发射率；
使用真正的光计数仪器将测量中的噪声降至低；
防止由于延迟采样（无快门打开和关闭）而造成的数据偏差
测温范围：650至1300℃
重复精度0.01°C(seeTN-828) 浙江高精度红外测温仪报价
