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发射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • DS
  • 型号
  • AE1/RD1
  • 类型
  • 材料检测
发射率测量仪企业商机

AE1/RD1可选配件(用于AE1型发射率计)发射率测量仪适配器—型号AE-AD3。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为1.0英寸(2.54厘米)的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量,并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。发射率测量仪适配器—型号AE-AD1。AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸(3.8厘米)的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量,或者测量小于直径2.25英寸(5.7cm)的区域。发射率测量仪端口适配器—型号ADP。AE-ADP端口内径为1.5英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸,具有低导热性的材料,大曲率圆柱形表面(>2英寸)粗糙或纹理表面。并且输出电压和发射率成线性关系,D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器。精确发射率测量仪维保

发射率测量仪

AE1/RD1发射率测量仪如今仍属是一种高精密仪器,主要用于反射隔热涂料检测。首先在测发射率时,对所需测试的样品特性、标准、程序流程和技术性要了解,要对所应用的仪器的技术性特性要了解,对仪器的结构要有一定的掌握,尤其是对AE1/RD1测试时的实际操作及特性要了解。也要认真阅读AE1/RD1发射率的实际操作操作手册,那样能够防止因错误操作,而造成仪器的损坏及样品测试数据信息的有误。AE1/RD1发射率测量仪操作方式,上海明策来给你详细介绍一下。精确发射率测量仪维保客户定制-定制测呈适配器,用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。

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测量方法介绍辐射积分法:漫射光照射被测物表面,利用多个探测器探测一定角度上不同波段的发射辐射能,加权计算得到被测物表面太阳反射比的方法。***光谱法:将试样放置于积分球中心位置,通过测试试样在规定波长上的***光谱发射比,计算试样太阳光反射比的方法。相对光谱法:通过测试试样在规定波长上相对于标准白板的光谱发射比,计算试样太阳反射比的方法。光纤光谱仪:采用光纤作为信号耦合器件,将试样反射光耦合到光谱仪中进行光谱分析测定试样反射比的仪器。上海明策不仅提供仪器与方案,更有现场专业服务!DS半球发射率AE1/RD1我们有全新现货。可以提供一次测试服务。反射率有太阳光谱反射率测量仪SSR-ER、TESA2000反射率测量仪等。

    AE1/RD1发射率测量仪优点重复性:±、把辐射计放在高发射率标准体上,设定RD1来显示发射率2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。AE1/RD1发射率测量仪可选配件型号AE-AD1-测量直径**小可至()的样品。型号AE-AD3-测量直径**小可至()的样品。型号AE-ADP-测量适配器,用来测量**小直径为()的平面样品,测量低导热性、大曲率(>2英寸)圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。客户定制–定制测量适配器,用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。电池包–为方便客户便携式操作,我们还提供锂电池电池版本,可给该测量仪连续供电12小时左右,有电池电量指示,可充电。AE1/RD1发射率测量仪满足的规程满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。 可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头,能测量样品的**小直径为1.0英寸(2.54cm)。

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产品名称:D&S半球发射率测量仪产品类别:发射率测量仪产品简介:D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。D&S半球发射率测量仪主要优势:重复性:±0.01操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度快速测量:预热约30分钟,每1.5分钟测量一次发射率价格实惠:相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。手持式发射率测量仪技术参数

标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用。精确发射率测量仪维保

    进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置,然后等RD1显示的发射率数值稳定下来;并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率,不需要进行任何计算3.当测量未知样品时,一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1,然后再测样品的发射率;当然设计其他一些特殊样品,我们有其他的一些对应方法,详情敬请咨询上海明策。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置,然后等RD1显示的发射率数值稳定下来;并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率,不需要进行任何计算3.当测量未知样品时,一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1,然后再测样品的发射率;当然设计其他一些特殊样品,我们有其他的一些对应方法。 精确发射率测量仪维保

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