研究所利用电子束曝光技术制备微纳尺度的热管理结构，探索其在功率半导体器件中的应用。功率器件工作时产生的热量需快速散出，团队通过电子束曝光在器件衬底背面制备周期性微通道结构，增强散热面积。结合热仿真与实验测试，分析微通道尺寸与排布方式对散热性能的影响，发现特定结构的微通道能使器件工作温度降低一定幅度。依托材料外延平台，可在制备散热结构的同时保证器件正面的材料质量，实现散热与电学性能的平衡，为高功率器件的热管理提供了新解决方案。电子束曝光在单分子测序领域实现原子级精度的生物纳米孔制造。安徽光波导电子束曝光代工
研究所针对电子束曝光在高频半导体器件互联线制备中的应用开展研究。高频器件对互联线的尺寸精度与表面粗糙度要求严苛，科研团队通过优化电子束曝光的扫描方式，减少线条边缘的锯齿效应，提升互联线的平整度。利用微纳加工平台的精密测量设备，对制备的互联线进行线宽与厚度均匀性检测，结果显示优化后的工艺使线宽偏差控制在较小范围，满足高频信号传输需求。在毫米波器件的研发中，这种高精度互联线有效降低了信号传输损耗，为器件高频性能的提升提供了关键支撑，相关工艺已纳入中试技术方案。浙江NEMS器件电子束曝光技术电子束曝光为微振动检测系统提供超高灵敏度纳米机械谐振结构。
电子束曝光重塑人工视觉极限，仿生像素阵列模拟视网膜感光细胞分布。脉冲编码机制实现动态范围160dB，强光弱光场景无损成像。神经形态处理内核每秒处理100亿次突触事件，动态目标追踪延迟只有0.5毫秒。在盲人视觉重建临床实验中，植入芯片成功恢复0.3以上视力，识别亲友面孔准确率95.7%。电子束曝光突破芯片散热瓶颈，在微流道系统构建湍流增效结构。仿鲨鱼鳞片肋条设计增强流体扰动，换热系数较传统提高30倍。相变微胶囊冷却液实现汽化潜热高效利用，1000W/cm²热密度下芯片温差＜10℃。在英伟达H100超算模组中，散热能耗占比降至5%，计算性能释放99%。模块化集成支持液冷系统体积减少80%，重塑数据中心能效标准。
研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的曝光均匀性。利用原子力显微镜对晶圆不同区域的图形进行表征，结果显示优化后的工艺使边缘与中心的线宽偏差控制在较小范围内。这项研究提升了电子束曝光技术在大面积器件制备中的适用性，为第三代半导体中试生产中的批量一致性提供了保障。电子束曝光的成功实践离不开基底处理、热管理和曝光策略的系统优化。
在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器件电学性能的影响。在 IGZO 薄膜晶体管的研究中，优化后的曝光与注入工艺使器件的沟道导电性调控精度得到提升，为器件性能的精细化调节提供了可能。这项研究展示了电子束曝光在半导体掺杂工艺中的关键作用。通过汇总不同科研机构的工艺数据，分析电子束曝光关键参数的合理范围，为制定行业标准提供参考。在内部研究中，团队已建立一套针对第三代半导体材料的电子束曝光为超高灵敏磁探测装置制备微纳超导传感器件。浙江NEMS器件电子束曝光技术
电子束曝光在固态电池领域优化电解质/电极界面离子传输效率。安徽光波导电子束曝光代工
围绕电子束曝光的套刻精度控制，科研团队开展了系统研究。在多层结构器件的制备中，各层图形的对准精度直接影响器件性能，团队通过改进晶圆定位系统与标记识别算法，将套刻误差控制在较小范围内。依托材料外延平台的表征设备，可精确测量不同层间图形的相对位移，为套刻参数的优化提供量化依据。在第三代半导体功率器件的研发中，该技术确保了源漏电极与沟道区域的精细对准，有效降低了器件的接触电阻，相关工艺参数已纳入中试生产规范。安徽光波导电子束曝光代工
