深圳GEN3测试系统行价

可选AWG/TMU/Digitizer：混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG（任意波形发生器）、TMU（时间测量单元）和Digitizer（数字化仪），使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形，用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能，THD低至-122dB，信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率，可精确测量5G基带信号的抖动与延迟，保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号，用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时，杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形，实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC，无需外接多台设备，节省空间与成本。国磊GT600SoC测试机512Sites高并行测试架构，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的测试吞吐量。深圳GEN3测试系统行价

国磊（Guolei）的SoC测试机（如GT600）虽然主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字、模拟及混合信号测试，但其技术能力与MEMS（微机电系统）领域存在多维度、深层次的联系。尽管MEMS器件本身结构特殊（包含机械微结构、传感器/执行器等），但在实际应用中，绝大多数MEMS芯片都需与**ASIC或SoC集成封装（如惯性测量单元IMU、麦克风、压力传感器等），而这些配套电路的测试正是国磊SoC测试机的**应用场景。MEMS-ASIC协同封装的测试需求，现代MEMS产品极少以“裸传感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的异质集成方案。例如，加速度计/陀螺仪中的MEMS结构负责感知物理量，而配套的ASIC则完成信号调理、模数转换、温度补偿和数字接口输出。这类ASIC往往具备高精度模拟前端（如低噪声放大器、Σ-Δ ADC）、可编程增益控制和I²C/SPI数字接口，属于典型的混合信号SoC。 国磊GT600配备24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引脚参数测量单元及TMU时间测量功能，可***验证此类MEMS配套ASIC的线性度、噪声性能、时序响应和电源抑制比，确保传感器整体精度与可靠性。广东CAF测试系统研发国磊GT600SoC测试机作为通用ATE平台，其测试能力由板卡配置与软件程序决定，而非绑定特定工艺。

杭州国磊SOC测试机：开启全场景智能测试新纪元在半导体测试领域，杭州国磊SOC测试机凭借***性能与创新技术脱颖而出，成为行业焦点。作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品，它专为系统级芯片（SoC）测试量身打造，以“弹性扩展+国产自研+全栈覆盖”三大**优势，为芯片测试提供一站式解决方案。 杭州国磊SOC测试机采用模块化弹性架构，拥有GC-36旗舰型、GC-18性能型、GC-8经济型三阶主机箱，灵活适配不同规模产线与实验室验证需求。其***“硬对接+线缆双模式”，支持机柜、桌面、机端部署，极大提升了设备部署的便捷性与灵活性。 在性能方面，杭州国磊SOC测试机实现多项突破。数字信号速率高达800Mbps，向量存储深度达128M，支持多站点并行测试，单机可同步运行32个测试单元，测试吞吐量提升300%，***缩短测试周期。同时，其高压测试范围覆盖-10V至+1000V，时间测量精度达1ps分辨率，满足**AD/DA芯片、MCU微控制单元等复杂芯片的严苛测试需求。 作为国产自研的典范，更在服务响应速度与定制化能力上**一步。其全流程测试覆盖能力，涵盖数字、电源、高压、大功率、射频分析等六大核心板卡矩阵，为芯片从研发到量产的全生命周期提供坚实保障。

AI芯片市场竞争激烈，测试成本直接影响产品定价与市场渗透率。GT600支持高达512 Sites的并行测试能力，意味着单次测试可同时验证数百颗芯片，将单位测试时间压缩至传统设备的1/10以下。结合其高稳定性与自动化软件平台，整体测试成本可降低70%以上。这一优势对年出货量达百万级的边缘AI芯片、智能摄像头主控、机器人控制器等产品尤为关键。杭州国磊通过GT600构建的“超级测试流水线”，不仅提升了国产芯片的量产效率，更增强了中国AI硬件在全球市场的价格竞争力，真正实现“测得起、卖得快、走得远”。国磊GT600的128M向量存储深度可记录长时间功耗波形，用于分析AI推理、传感器唤醒等突发任务的能耗曲线。

    GT600SoC测试机在测试高可靠性产品（如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片）时，展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势，确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先，高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU（参数测量单元），可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常，但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查，提前剔除隐患，大幅提升产品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试（Burn-in），在高温高压下运行芯片数百小时，加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境，验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品，高精度TMU（10ps分辨率）可检测信号时序漂移，确保长期通信无误码。再次，高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余，散热优良，支持7x24小时连续运行，可执行长达数周的耐久性测试，模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断，数据完整。***，数据可追溯性强。 国磊GT600支持单一部署的NPU芯片如寒武纪、天玑NPU低功耗状态机、唤醒延迟、静态电流与混合信号接口验证。无锡导电阳极丝测试系统厂家直销

国磊GT600SoC测试机每通道32/64/128M向量存储深度，支持复杂HBM协议Pattern的完整加载与执行。深圳GEN3测试系统行价

支撑国产芯片全流程自主验证 从设计到量产，芯片必须经过严格的功能与参数测试。若测试设备受制于人，不仅存在数据安全风险（如测试程序、芯片特性被第三方获取），还可能因设备兼容性问题拖慢研发节奏。国磊（Guolei）GT600采用开放式GTFY软件架构，支持C++编程、自定义测试流程，并兼容STDF、CSV等标准格式，使国产CPU、GPU、AI加速器、车规MCU等关键芯片可在完全自主可控的平台上完成工程验证与量产测试，确保“设计—制造—测试”全链条安全闭环。加速国产芯片生态成熟与迭代 供应链安全不仅在于“有无”，更在于“效率”与“响应速度”。国磊作为本土企业，可提供快速的技术支持、定制化开发和本地化服务。例如，某智能驾驶芯片厂商在流片后发现高速接口时序异常，国磊工程师可在48小时内协同优化TMU测试程序，而依赖国外设备则可能需数周等待远程支持。这种敏捷响应能力极大缩短了国产芯片的调试周期，加速产品上市，提升整个生态的竞争力与韧性。深圳GEN3测试系统行价