国产PCB测试系统厂家直销

    GT600SoC测试机在测试高可靠性产品（如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片）时，展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势，确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先，高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU（参数测量单元），可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常，但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查，提前剔除隐患，大幅提升产品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试（Burn-in），在高温高压下运行芯片数百小时，加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境，验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品，高精度TMU（10ps分辨率）可检测信号时序漂移，确保长期通信无误码。再次，高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余，散热优良，支持7x24小时连续运行，可执行长达数周的耐久性测试，模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断，数据完整。***，数据可追溯性强。 国磊GT600每通道集成PPMU，支持nA级电流分辨率，可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。国产PCB测试系统厂家直销

灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构，不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽，支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合，并兼容多种VI浮动电源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出）。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求，无需为每款芯片重新开发整套测试硬件，***提升测试系统的复用率与投资回报率。高性能导电阳极丝测试系统国磊GT600向量存储深度32/64/128M，支持长Pattern测试序列，适用于带数字校准功能的智能传感器芯片。

在地缘***风险加剧的当下，芯片测试环节的自主可控关乎**。过去，**SoC测试严重依赖泰瑞达、爱德万等国外设备，存在数据泄露、断供禁运等隐患。GT600作为纯国产**测试机，从FPGA控制逻辑到测试向量编译器均实现自主开发，确保测试数据不出境、设备不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感领域部署的AI芯片，必须通过可信平台验证。GT600的出现，填补了国产测试设备在400MHz以上高频段的空白，为国家关键信息基础设施提供“***一道防线”，是构建安全、普惠、可信AI生态的基石。

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器（CIS）和图像信号处理器（ISP）对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法（如降噪、边缘增强），并通过AWG注入模拟图像信号，验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流，筛选出“省电体质”芯片；其支持长时间老化测试，可模拟10年以上使用寿命，确保植入后万无一失。 综上，国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力，为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口，如快速唤醒与电源切换延迟。

    高通道密度（512~2048数字通道）——适配复杂AISoC引脚规模，现代AI芯片引脚数常超2000（如集成HBM堆栈、多核NPU、多电源域），传统测试设备通道不足。支持**多2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，避免分时复用导致的测试盲区。满足寒武纪、壁仞、华为昇腾等国产AI芯片的高集成度测试需求，助力其快速进入数据中心与边缘计算市场。超大向量深度（**高128M/通道）——实现真实AI负载场景回放，AI推理/训练涉及复杂算法流（如Transformer、CNN），需长时间、高覆盖率的功能验证。128M向量存储深度支持完整运行真实AI工作负载测试向量，捕获边界条件下的功能异常或功耗峰值。不仅验证逻辑功能，更能模拟实际应用场景，提升芯片可靠性，加速客户产品上市周期。 国磊GT600数字通道边沿精度100ps，确保模拟IC控制信号（如Enable、Reset）的建立与保持时间精确验证。国产导电阳极丝测试系统供应

国磊GT600SoC测试机可通过GPIB/TTL接口同步探针台与分选机，实现HBM集成芯片的CP/FT自动化测试流程。国产PCB测试系统厂家直销

国磊（Guolei）的SoC测试机（如GT600）虽然主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字、模拟及混合信号测试，但其技术能力与MEMS（微机电系统）领域存在多维度、深层次的联系。尽管MEMS器件本身结构特殊（包含机械微结构、传感器/执行器等），但在实际应用中，绝大多数MEMS芯片都需与**ASIC或SoC集成封装（如惯性测量单元IMU、麦克风、压力传感器等），而这些配套电路的测试正是国磊SoC测试机的**应用场景。MEMS-ASIC协同封装的测试需求，现代MEMS产品极少以“裸传感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的异质集成方案。例如，加速度计/陀螺仪中的MEMS结构负责感知物理量，而配套的ASIC则完成信号调理、模数转换、温度补偿和数字接口输出。这类ASIC往往具备高精度模拟前端（如低噪声放大器、Σ-Δ ADC）、可编程增益控制和I²C/SPI数字接口，属于典型的混合信号SoC。 国磊GT600配备24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引脚参数测量单元及TMU时间测量功能，可***验证此类MEMS配套ASIC的线性度、噪声性能、时序响应和电源抑制比，确保传感器整体精度与可靠性。国产PCB测试系统厂家直销