杭州国磊GT600提供512个数字通道,并可扩展至2048通道,配合16个通用插槽,构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时,512通道可完全覆盖其I/O需求,无需复用或分时测试,确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡(AWG/TMU)、电源板卡(DPS/SMU),实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如,测试智能座舱芯片时,部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑,另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC,再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求,从低引脚MCU到高集成SoC,一机通测,大幅降低企业设备采购与维护成本。国磊GT600向量存储深度32/64/128M,支持长Pattern测试序列,适用于带数字校准功能的智能传感器芯片。赣州CAF测试系统市场价格

传统测试设备面向通用CPU/GPU设计,难以应对AI芯片特有的稀疏计算、张量**、片上互联等新架构。GT600针对此类需求优化了测试向量调度机制与并行激励生成能力,支持对非规则数据流、动态稀疏***、混合精度运算的专项验证。其灵活的时钟域管理还可模拟多频异构系统的工作状态。这种“为AI而生”的设计理念,使GT600不仅兼容现有芯片,更能前瞻性支持下一代AI硬件创新。在杭州打造“中国算力之城”的进程中,GT600正推动测试从“功能检查”向“场景仿真”演进,**国产测试技术范式升级。导电阳极丝测试系统工艺电源门控模块在唤醒时快速供电进入状态。GT600利用GT-TMUHA04测量从门控信号到模块输出有效信号的时间。

高精度模拟测试满足车规级信号完整性要求 智能驾驶系统高度依赖毫米波雷达、摄像头、激光雷达等传感器输入,其前端模拟信号链对噪声、失真和时序精度极为敏感。杭州国磊GT600配备的GT-AWGLP02 AWG板卡具备-122dB THD与110dB SNR指标,可精细生成高质量模拟激励信号;而GT-TMUHA04时间测量单元则提供10ps分辨率与时序误差*±10ps的测量能力。这些高精度模拟与混合信号测试功能,使得GT600能够***验证AD/DA转换器、高速SerDes接口及电源管理模块在极端工况下的性能表现,确保智能驾驶SoC在真实道路环境中稳定可靠运行。
1.高边沿精度保障高速接口时序合规性。现代智能驾驶SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口,用于连接传感器与**计算单元。这些接口对信号边沿时序要求极为严苛。杭州国磊GT600具备100ps的向量边沿放置精度,能够精确模拟高速信号的上升/下降沿,并配合Digitizer板卡捕获实际输出波形,验证眼图、抖动与建立/保持时间是否符合协议规范。这种高精度时序控制能力,是确保车载高速通信链路稳定性的关键测试手段。开放式软件生态赋能定制化测试开发。杭州国磊GT600采用基于VisualStudio与C++的开放式GTFY编程环境,允许客户根据自身芯片特性开发定制化测试流程。对于智能驾驶芯片厂商而言,这意味着可将内部验证方法论(如ISO26262功能安全测试用例)直接嵌入测试程序,实现自动化安全机制验证。同时,图形化数据显示与用户管理界面便于测试工程师快速定位故障引脚或模块,大幅提升调试效率,缩短芯片迭代周期。 国磊GT600支持多Site并行测试,提升电源管理芯片、运放等高量产型号的测试效率与产能。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。杭州国磊(Guolei)GT600支持每引脚PPMU(参数测量单元)和可编程浮动电源(),能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数,有效剔除早期失效器件,避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台随着量子计算机向百比特以上规模演进,集成化“量子测控SoC”成为趋势(如Intel的HorseRidge芯片)。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能,结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率,完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。 国磊GT600数字通道边沿精度100ps,确保模拟IC控制信号(如Enable、Reset)的建立与保持时间精确验证。高性能绝缘电阻测试系统市价
国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能,可用于BGR(带隙基准)温度特性与电源抑制比(PSRR)自动化测试。赣州CAF测试系统市场价格
兼容探针台与分选机,打通晶圆到封装测试链路。智能驾驶芯片需经历晶圆测试(CP)与封装测试(FT)双重验证。杭州国磊GT600支持GPIB、TTL等标准接口,可无缝对接主流探针台与分选机设备,实现从裸片到成品的全流程自动化测试。尤其在高温、低温等车规级应力测试条件下,杭州国磊GT600的小型化、低功耗设计有助于在温控腔体内稳定运行,确保测试数据的一致性与可重复性,为芯片通过AEC-Q100认证提供可靠数据支撑。国产**测试设备助力智能驾驶产业链自主可控在全球半导体供应链紧张与技术封锁背景下,国产高性能测试设备的战略意义凸显。杭州国磊GT600作为国内少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC测试机,已获得行业专业客户认可,标志着我国在**ATE领域取得突破。对于智能驾驶这一关乎国家交通安全与科技**的关键赛道,采用国磊GT600不仅可降低对国外测试设备的依赖,更能通过本地化技术支持快速响应芯片厂商的定制需求,加速中国智能驾驶芯片生态的自主化与全球化进程。 赣州CAF测试系统市场价格
高同测能力加速智能驾驶芯片量产进程。智能驾驶芯片往往需要大规模部署于整车厂供应链中,对测试效率和成本控制极为敏感。杭州国磊GT600支持比较高512 Sites的并行测试能力,意味着可在单次测试周期内同时验证数百颗芯片,极大缩短测试时间、降低单位测试成本。这种高同测(High Parallel Test)特性对于满足车规级芯片动辄百万级出货量的需求至关重要。此外,其开放式GTFY软件平台支持工程模式与量产模式无缝切换,便于在研发验证与大规模生产之间灵活调配资源,确保智能驾驶芯片在严格的时间窗口内完成认证与交付。国磊GT600每通道集成PPMU,支持HBM相关I/O引脚的漏电流(Leakage)...