国产替代高阻测试系统

现代AI芯片集成度极高，动辄拥有上千引脚，传统测试设备因通道数量不足，往往需分时复用或多轮测试，不仅效率低下，还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***，GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具，大幅缩短芯片从流片到量产的周期，助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。离子迁移试验是确保电子产品长期可靠性的关键。国产替代高阻测试系统

测试数据闭环助力量子芯片协同优化，国磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式输出，并具备数据分析与图形化显示功能。这些测试数据可与量子芯片的设计仿真平台联动，形成“测试—反馈—优化”闭环。例如，若某批次控制芯片的相位噪声超标，可反向指导量子比特布局或滤波器设计，提升整体系统相干时间。国产化替代保障量子科技供应链安全 量子技术属于国家战略科技力量，其**装备的自主可控至关重要。国磊（Guolei）作为国产**ATE厂商，其GT600系统已实现对国际同类设备（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。SIR测试系统市场价格您的产品需要经历高温高湿环境的考验吗？

在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下，杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道，足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性，还***降低了客户部署成本。更重要的是，GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控，有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下，GT600不仅是一台测试设备，更是保障中国半导体产业链安全的战略支点，为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。

集成PPMU与动态电流监测——赋能“每瓦特算力”优化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成为核心竞争力，尤其在数据中心“双碳”目标下。每通道集成PPMU，支持nA级静态电流与A级动态电流测量； 可捕获微秒级浪涌电流（Inrush Current）与电压塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，绘制功耗-性能曲线。帮助芯片设计团队优化电源完整性（PI）与低功耗策略（如电源门控），打造高能效国产AI芯片。512 Sites并行测试架构——降低量产成本，抢占市场先机。AI芯片年出货量动辄百万级，测试成本直接影响产品竞争力。512站点并行测试能力，使单颗芯片测试成本降低70%以上，测试效率呈指数级提升。为国产AI芯片大规模量产提供“超级测试流水线”，实现“测得快、卖得起、用得稳”。开放软件生态（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片创新迭代 背景：AI架构快速演进（如存算一体、类脑计算），需高度灵活的测试平台。开放编程环境支持自定义测试逻辑，高校与企业可快速开发新型测试方案。不仅是量产工具，更是科研创新的“开放实验台”，推动中国AI芯片从“跟随”走向“**”。国磊GT600SoC测试机通过输入/输出电平测试（VIH/VIL,VOH/VOL）验证数字接口的高低电平阈值与驱动能力。

高速数字接口验证保障系统集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自动驾驶）常集成SPI/QSPI接口，速率可达50MHz以上。国磊（Guolei）GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度，不仅能验证数字协议合规性，还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查，确保MEMS模块在高速数据交互中不失效，避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片（如手机中的六轴传感器）年出货量达数亿颗，对测试成本极其敏感。国磊（Guolei）GT600支持比较高512 Sites并行测试，可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片，大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度（比较高128M）和ALPG（自动逻辑图形生成）功能，可高效覆盖复杂校准算法（如六点温度补偿）的测试流程。高精度电压输出与测量，确保测试结果的准确性。湖州CAF测试系统工艺

国磊GT600SoC测试机400MHz测试速率可覆盖HBM2e/HBM3接口逻辑层的高速功能验证。国产替代高阻测试系统

国磊（Guolei）SoC测试系统，特别是其GT600高性能测试平台，在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下，对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备（ATE）是芯片制造后道工序的**装备，长期被美国泰瑞达（Teradyne）、日本爱德万（Advantest）等国际巨头垄断，尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域，国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破，具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖，避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。国产替代高阻测试系统