杭州国磊GEN3测试系统价位

AI眼镜作为下一代智能终端，集成了**头、语音交互、AR显示与边缘AI计算功能，其**是一颗高集成度的SoC芯片。这颗芯片需在极低功耗下运行大模型推理、图像处理与传感器融合，对性能与可靠性提出***要求。国磊GT600等SoC测试机正是确保这类芯片“万无一失”的关键。首先，AI眼镜的SoC包含CPU、NPU、ISP、蓝牙/WiFi基带等多种模块，属于典型混合信号芯片。国磊GT600凭借可选配的AWG和TMU，能同时验证数字逻辑与模拟电路，确保摄像头图像清晰、无线连接稳定、语音响应及时。其次，AI眼镜依赖电池供电，功耗控制极为敏感。国磊GT600的PPMU可精确检测芯片的静态漏电流（Iddq）和动态功耗，筛选出“省电体质”的芯片，直接决定眼镜的续航能力。再者，AI眼镜需7x24小时佩戴使用，可靠性至关重要。国磊GT600通过高温老化测试、高速功能验证，提前发现潜在缺陷，避免用户端出现死机、发热等问题。AI眼镜量产规模大，成本敏感。国磊GT600支持512站点并行测试，大幅提升效率，降低单颗芯片测试成本，助力产品上市。可以说，国磊GT600不仅可以做AI眼镜SoC的“体检官”，更能做其性能、续航与可靠性的“守门人”。在轻巧镜架之下，正是这样严苛的测试，让“智能随行”真正成为可能。 GM8800是进行绝缘劣化试验的理想选择。杭州国磊GEN3测试系统价位

当全球HBM市场由三星、SK海力士主导，当先进封装技术成为“卡脖子”关键，国产测试设备的自主可控显得尤为重要。国磊GT600测试机，正是在这一背景下崛起的国产**ATE**。它不**性能对标国际**设备，更以高性价比、本地化服务与持续创新能力，赢得国内头部AI芯片企业的信赖。GT600成功应用于多款集成了HBM接口的GPU与AI加速器测试，验证了其在**领域的实战能力。选择GT600，不**是选择一台测试机，更是选择一条自主可控的国产化路径。国磊GT600——智测HBM芯时代，赋能中国算力新未来！国产替代高阻测试系统现货直发操作界面友好，即使新手也能快速上手操作。

在现代手机SoC中，高速接口如LPDDR5内存、PCIe4.0存储、USB3.2/4.0数据传输等，已成为性能瓶颈的关键环节，其协议复杂、时序严苛，对测试设备的速率和深度提出极高要求。国磊GT600支持400MHz测试速率，可精细模拟高速信号边沿与时钟同步，确保接口在极限频率下稳定工作；其128M超大向量深度，足以容纳完整的AI大模型推理流程、多任务并发调度等长周期测试用例，避免传统设备因内存不足频繁加载数据导致的测试中断或覆盖不全，真正实现“一次加载，全程跑完”，保障功能验证的完整性与可靠性。

杭州国磊半导体设备有限公司依托**团队在半导体测试领域的技术积累，成功推出GM8800导电阳极丝测试系统，该系统专为应对高阻和绝缘材料测试挑战而设计。GM8800支持16~256通道分组测试，每组16通道**运行，电阻检测范围跨足10^4~10^14Ω，电流实时检测范围0.1μA~500μA，检测速度全通道可达8次/秒，采用完全屏蔽线缆，线缆标准长度3.5米并可定制，有效抗干扰，保障信号完整性。系统内置多重报警机制，涵盖测试停机、偏置电压超限、温湿度越界等，结合外置1V~3000V高偏置电压与1MΩ保护电阻，既安全又灵活。该设备可广泛应用于PCB板离子迁移、导电胶粘剂、树脂材料绝缘性能评价等领域，性能比肩国际**设备如英国GEN3，但拥有更优的性价比和更快的售后响应，真正助力用户实现测试设备的国产化替代与供应链自主可控。坚持创新，持续为客户创造价值是我们的价值观。

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发推出CAF测试系统GM8800。系统集成±100V内置电源与3000V外置高压模块，采用三段式步进电压技术：0-100V区间0.01V微调、100-500V步进0.1V、500-3000V步进1V。电压精度达±0.05V（1-100VDC），结合100V/2ms超快上升速度，精细模拟电动汽车电控浪涌冲击。1MΩ保护电阻与1-600秒可编程稳定时间，有效消除容性负载误差。测试范围覆盖10⁴-10¹⁴Ω，其中10¹⁴Ω极限测量精度±10%，为SiC功率模块提供实验室级绝缘验证方案。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。杭州国磊GEN3测试系统价位

国磊GT600SoC测试机可选配GT-TMUHA04板卡，提供10ps时间分辨率与0.1%测量精度，用于HBM接口时序对齐测试。杭州国磊GEN3测试系统价位

每一部智能手机的**都是一颗名为SoC的“超级大脑”。以苹果为例，每一代iPhone都搭载自研的A系列或M系列芯片（如A18、M4）。这颗芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基带、内存控制器等数十个模块。但这颗芯片在量产前，必须经历SoC测试机成千上万次的测试。比如功能验证：检查芯片的每一个逻辑门是否正常工作。当你用iPhone拍照时，ISP是否能正确处理图像？A18芯片的NPU是否能准确识别人脸？国磊GT600芯片测试机会模拟各种使用场景，输入测试向量，验证输出结果。性能筛选：国磊GT600SoC芯片测试机会进行速度分级测试，将芯片分为不同等级。只有通过最高速度测试的芯片，才会被用于旗舰机型。功耗与漏电检测：手机续航至关重要。国磊GT600芯片测试机的PPMU能精确测量芯片的静态电流（Iddq），确保待机时不“偷电”，避免手机“一天三充”。可靠性保障：在极端温度、电压下运行芯片，筛选出可能早期失效的“弱鸡芯片”。国磊GT600芯片测试机支持老化测试，确保每一颗装进iPhone的芯片都经得起长期使用。混合信号测试：现代SoC不仅有数字电路，还有大量模拟模块（如音频编解码、电源管理）。国磊GT600芯片测试机可选配AWG和TMU，精确测试这些模拟功能，确保通话清晰、充电稳定。杭州国磊GEN3测试系统价位