GEN3测试设备研发

AI眼镜的轻量化设计要求SoC具备极高的功能密度与能效比，其内部状态机复杂，需支持多种低功耗模式（如DeepSleep、Standby）与快速唤醒机制。GT600的GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率与0.1%测量精度，可精确测量SoC从休眠到**的响应延迟，确保用户语音唤醒、手势触发等交互的实时性。其32/64/128M向量存储深度支持复杂状态机序列测试，覆盖AI推理、传感器融合、无线传输等多任务并发场景。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现定制化低功耗测试流程，如周期性唤醒、事件驱动中断等典型AI眼镜工作模式的自动化验证。GT600支持采用开源CPU核与自研NPU的异构SoC数字逻辑、模拟模块与低功耗策略的综合验证。GEN3测试设备研发

“风华3号”的推出标志着国产全功能GPU在大模型训练、科学计算与重度渲染领域实现从0到1的突破。其集成RISC-VCPU与CUDA兼容GPU架构，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生态，对芯片功能复杂度、接口带宽与时序精度提出了极高要求。此类高性能GPU通常具备数千个逻辑引脚、多电源域、高速SerDes接口及复杂状态机，传统测试设备难以完成**验证。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道与400MHz测试速率，可完整覆盖“风华3号”类GPU的高引脚数、高速功能测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂计算指令序列的Pattern加载，确保GPU**、NPU单元及RISC-V子系统的功能正确性。J-RAS离子迁移试验装置CAF测试国磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多种模式，满足运放、比较器等模拟器件特性测试需求。

GT600每通道集成PPMU，具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中，将PPMU连接至被门控模块的电源引脚（VDD）或地引脚（VSS），在门控信号（PG_EN）关闭后，测量该模块的静态电流（IDDQ）。若电流**高于设计预期（如>1μA），则表明存在异常漏电，可能由工艺缺陷或电源开关未完全关断导致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同时监测主电源域与被门控电源域的电流。测试时，保持主逻辑供电，关闭目标模块的电源门控信号，通过对比门控前后该域电流的变化，精确提取**由门控网络控制的漏电成分，排除其他模块干扰。GT600支持电压扫描（VoltageSweeping）和温控联动（通过探针台接口），可在高温（如125°C）和高电压条件下进行测试，放大漏电效应，提升缺陷检出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下测量关断电流，可暴露常温下难以发现的微小漏电。通过GTFY软件系统编写C++脚本，可自动化执行：施加正常工作电压；发送指令进入低功耗模式并触发电源门控；延时稳定（如10ms）；启动PPMU进行电流采样；重复多次以验证一致性。该流程确保测试可重复，并能捕捉间歇性漏电。

杭州国磊半导体设备有限公司深刻洞察国内产业对**测试装备的迫切需求，成功研发了GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统。该系统具备强大的256通道并行测试能力，电阻测量范围高达10^14Ω，测量精度优异，能够精细评估PCB内部、封装材料、基板等在不同偏压和湿热条件下的绝缘电阻变化趋势，有效预警因导电阳极丝生长导致的短路风险。GM8800提供高度灵活的电压输出配置，内置精密源表单元（0V~±100V），外接偏置电压可达3000V，电压控制精度高，上升速度快，且测试电压稳定时间可自由设定（1~600秒），完美适配各种加速测试方案。系统***集成数据采集功能，实时记录时间、电阻、电流、电压、温度、湿度等参数，并通过专业软件进行自动化数据分析和可视化展示，支持远程监控功能。其设计注重安全与可靠性，配备多层次报警系统（低阻、停机、环境参数、电源、软件状态）和断电保护机制。与进口产品相比，GM8800在**性能指标上达到国际先进水平，同时拥有更优的通道性价比、更低的运维成本和更便捷的本土化服务支持，已成为国内**的PCB制造商、芯片封装厂、汽车电子供应商及科研机构进行产品可靠性研究与品质管控的可靠伙伴，助力中国智造迈向新高。专业的技术支持团队，为您提供周到的服务。

国磊半导体推出的GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统，是一款集高性能、高可靠性、高灵活性于一体的国产CAF测试装备。该系统最大支持256通道分组CAF测试，电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω，测量精度高，能够灵敏、准确地捕捉绝缘材料在直流高压和湿热环境下的电阻退化现象，为评估其耐CAF性能提供定量依据。GM8800提供精确可调的电压应力，内置0V~±100V精密电源，外接偏置电压比较高达3000V，电压输出稳定且精度高，步进调节精细，并具备快速的电压建立能力。系统测试参数设置灵活，间隔时间、稳定时间、总时长均可按需配置，并集成实时温湿度监控与多重安全报警功能（如低阻、电压异常、停机、断电、软件故障），确保长期测试的安全与连续。配套软件提供全自动测试控制、数据采集、图形化分析、报告导出及远程监控功能，操作简便。与进口品牌如英国GEN3相比，GM8800在**测试能力上毫不逊色，而在通道数量、购置成本、使用灵活性以及本土技术服务响应方面具有明显优势，非常适合国内PCB行业、汽车电子制造商、学术研究机构及第三方实验室用于材料鉴定、工艺优化和质量可靠性验证，是实现关键测试设备国产化替代的理想选择。国磊半导体致力于为全球客户提供高性能的测试解决方案。杭州国磊CAF测试系统厂家直销

国磊GT600SoC测试机支持Real-time与Pattern-triggered频率测试模式，适用于HBM时钟网络稳定性分析。GEN3测试设备研发

国磊GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统是一款性能***、功能***的国产**绝缘可靠性测试平台。该系统最大支持256个测试通道，可同时对大量样品或测试点进行长期加电监测，电阻测量范围宽广（10^4~10^14Ω），精度可靠，能够有效评估在高温高湿环境下电场作用下绝缘材料的离子迁移（CAF）倾向及其绝缘电阻的退化过程。GM8800提供精确可编程的电压激励，内置电源范围0V~±100V，外接偏置电压高达3000V，步进调节精细，电压输出稳定且精度高，并具备快速的电压切换和建立能力。系统测试间隔（1~600分钟）、测试持续时间（1~9999小时）均可自由设定，并配备多重安全报警（如低阻、温湿度超标、电压异常、断电、软件故障）和UPS断电保护功能，确保无人值守长周期测试的万无一失。其软件系统集数据采集、实时显示、历史分析、远程控制于一体，操作便捷，洞察深入。与进口设备如英国GEN3相比，GM8800在关键性能参数上达到同等水平，同时拥有更优的通道性价比、更低的维护成本和更及时的本土化技术支持，非常适用于新能源汽车电子、航空航天电子、**消费电子、半导体封装等领域对绝缘材料及工艺进行苛刻的可靠性验证与筛选，是实现关键测试设备国产化替代的战略性产品。GEN3测试设备研发