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眼图测试基本参数
  • 品牌
  • 克劳德
  • 型号
  • 通用
  • 类型
  • 网络频谱分析仪,噪声频谱分析仪,信号频谱仪
  • 安装方式
  • 台式
  • 加工定制
眼图测试企业商机

产生抖动的原因有很多,常见的一种由于噪声引起的。

一个带噪声的数字信号及其判决。一般我们把数字信号超过阈值的状态判决为“1”,把低于阈值的状态判决为"0",由于信号的上升沿不是无限陡的,所以噪声会引起信号过阈值点时刻的左右变化,这就是由噪声引起的信号抖动。由于噪声是随机的、无界的,因此造成的随机抖动也是随机的、无界的、也就是说理论上随着样本数的增加随机抖动的峰峰值是无穷大,所以通常用随机抖动的RMS值而不是峰峰值来衡量随机抖动的大小。理想的随机抖动应该是一个高斯分布,所以有时候也会根据系统误码率的要求,对随机抖动的RMS值乘以一个系数,再和确定性抖动一起计算系统的总体抖动。随机抖动的大小取决于系统的噪声,和发送的码型无关,因此早期在没有专门的抖动分解软件时,是让被测件产生一个周期性的0101的码型来进行随机抖动的测试。 基于眼图的高速信号频率测试方法?USB测试眼图测试协议测试方法

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DDR4眼图测试1-2是德科技ADS仿真软件的DDR4总线仿真器,提供了统计眼图分析的功能,能够在短时间内统计计算在极低误码率(1e-16)下的DQ眼图,根据规范判断模板是否违规。另外基于总线的仿真,也很易于仿真基于串扰因素下的眼图质量。基于示波器的DDR4信号实测,可以利用大家熟悉的InfiniiScan区域触发功能,很容易分离出“写”信号,再通过Gating功能对Burst写信号做时钟恢复和眼图重建,再进行EyeContour测量,并验证1e-16误码率下的眼图模板是否违规。如果是使用一致性测试软件,就不用手动操作,软件会自动跟踪和分离波形并实现眼图测试 解决方案眼图测试哪里买眼图测试分析系统参数?

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在进行眼图测试时直接把眼图套在这个模板上,如果长时间累积测量信号没有压在模板上,就说明信号满足了基本质量要求,一个对10.31Gbps的信号进行模板测试的例子,信号质量很好,所以点没有压在模板上。

如果被测信号压在测试模板上,就说明被测信号质量有明显的问题。

通过模板测试,可以快速判决信号质量的问题,因此模板测试在很多高速总线的兼容性测试中都是比测的项目。

但是需要注意的一点是,虽然眼图的模板的测试可以反映出高速数字信号质量的大部分问题,但并不是 全部的。即使信号通过了模板测试,也有可能其他参数   不满足条件 ,例如  信号里各个抖动分量成分占的比例、预加重的幅度、共模噪声、SSC的调制速率和调制  深度 等,所以大部分高速的数字总线除了进行眼图的模板测试外还都会要求一些其他项目的测试。  

在实际系统中,完全消除码间串扰是十分困难的,而码间串扰对误码率的影响目前尚无法找到数学上便于处理的统计规律,还不能进行准确计算。为了衡量基带传输系统的性能优劣,在实验室中,通常用示波器观察接收信号波形的方法来分析码间串扰和噪声对系统性能的影响,这就是眼图分析法。眼图是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形,它包含了丰富的信息,从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响,体现了数字信号整体的特征,从而估计系统优劣程度,因而眼图分析是高速互连系统信号完整性分析。另外也可以用此图形对接收滤波器的特性加以调整,以减小码间串扰,改善系统的传输性能。一种眼图测试方法,系统,设备及介质?

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DDR4 眼图测试1-1

对于 DDR 源同步操作,必然要求DQS 选通信号与 DQ 数据信号有一定建立时间 tDS 和保持时间 tDH 要求,否则会导致接收锁存信号错误,DDR4 信号速率达到了3.2GT/s,单一比特位宽为 312.5ps,时序裕度也变得越来越小,传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到 tDS/tDH 差值,无法大概率体现由于 ISI 等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献,也很难准确反映随机抖动 Rj 的影响。在 DDR4 的眼图分析中就要考虑这些抖动因素,基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分,外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC 协会在规范中明确了在 DDR4 中测试误码率为 1e-16 的眼图轮廓,确保满足在 Vcent 周围Tdivw 时间窗口和 Vdivw 幅度窗口范围内模板内禁入的要求。 对符号波形序列所显示的眼图性能参数进行度量的过程。USB测试眼图测试协议测试方法

高速信号眼图测试中夹具影响的校准?USB测试眼图测试协议测试方法

DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时,由于 BGA 信号难以探测,是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer,将 BGA 下方的信号引到 Interposer ,方便探头焊接,为了减少 Interposer 对信号带来影响,在 interposer 内专门有埋阻设计,减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应;但为了精确测量,我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌,在软件内使用多端口拓扑模型,载入 Interposer 的S 参数,生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数,在示波器中测得去嵌后的波形,下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 USB测试眼图测试协议测试方法

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