选择比指的是在同一刻蚀条件下一种材料与另一种材料相比刻蚀速率快多少，它定义为被刻蚀材料的刻蚀速率与另一种材料的刻蚀速率的比。基本内容：高选择比意味着只刻除想要刻去的那一层材料。一个高选择比的刻蚀工艺不刻蚀下面一层材料（刻蚀到恰当的深度时停止）并且保护的光刻胶也未被刻蚀。图形几何尺寸的缩小要求减薄光刻胶厚度。高选择比在较先进的工艺中为了确保关键尺寸和剖面控制是必需的。特别是关键尺寸越小，选择比要求越高。刻蚀较简单较常用分类是：干法刻蚀和湿法刻蚀。刻蚀技术可以通过控制刻蚀速率和刻蚀深度来实现对材料的精确加工。广州刻蚀炭材料
材料刻蚀是一种常见的表面加工技术，可以用于制备微纳米结构、光学元件、电子器件等。提高材料刻蚀的表面质量可以通过以下几种方法：1.优化刻蚀参数：刻蚀参数包括刻蚀时间、刻蚀速率、刻蚀深度等，这些参数的选择对刻蚀表面质量有很大影响。因此，需要根据具体材料和刻蚀目的，优化刻蚀参数，以获得更佳的表面质量。2.选择合适的刻蚀液：刻蚀液的选择也是影响表面质量的重要因素。不同的材料需要不同的刻蚀液，而且刻蚀液的浓度、温度、PH值等参数也会影响表面质量。因此，需要选择合适的刻蚀液，并进行优化。3.控制刻蚀过程：刻蚀过程中需要控制刻蚀速率、温度、气氛等参数，以保证刻蚀表面的质量。同时，还需要避免刻蚀过程中出现气泡、结晶等问题，这些问题会影响表面质量。4.后处理：刻蚀后需要进行后处理，以去除表面残留物、平整表面等。常用的后处理方法包括清洗、退火、化学机械抛光等。总之，提高材料刻蚀的表面质量需要综合考虑刻蚀参数、刻蚀液、刻蚀过程和后处理等因素，以获得更佳的表面质量。天津反应离子束刻蚀刻蚀技术可以实现对材料的选择性刻蚀，从而制造出复杂的微纳结构。
湿法刻蚀是化学清洗方法中的一种，化学清洗在半导体制造行业中的应用，是用化学方法有选择地从硅片表面去除不需要材料的过程。其基本目的是在涂胶的硅片上正确地复制掩膜图形，有图形的光刻胶层在刻蚀中不受到腐蚀源明显的侵蚀，这层掩蔽膜用来在刻蚀中保护硅片上的特殊区域而选择性地刻蚀掉未被光刻胶保护的区域。从半导体制造业一开始，湿法刻蚀就与硅片制造联系在一起。虽然湿法刻蚀已经逐步开始被法刻蚀所取代，但它在漂去氧化硅、去除残留物、表层剥离以及大尺寸图形刻蚀应用等方面仍然起着重要的作用。与干法刻蚀相比，湿法刻蚀的好处在于对下层材料具有高的选择比，对器件不会带来等离子体损伤，并且设备简单。
同样的刻蚀条件，针对不同的刻蚀暴露面积，刻蚀的速率会有所不一样。通常来说，刻蚀面积越大，刻蚀的速率越慢，暴露面积越小，刻蚀的速率越快。所以在速率调试的过程中，要使用尺寸相当的样品进来调试，这样调试的刻蚀速率参考意义比较大。氮化硅湿法刻蚀：对于钝化层，另外一种受青睐的化合物是氮化硅。可以用液体化学的方法来刻蚀，但是不想其他层那样容易。使用的化学品是热磷酸。因酸液在此温度下会迅速蒸发，所以刻蚀要在一个装有冷却盖的密封回流容器中进行。主要问题是光刻胶层经不起刻蚀剂的温度和高刻蚀速率。因此，需要一层二氧化硅或其他材料来阻挡刻蚀剂。这两个因素已导致对于氮化硅使用干法刻蚀技术。材料刻蚀技术可以用于制造微型光学阵列和微型光学波导等光学器件。
理想情况下，晶圆所有点的刻蚀速率都一致（均匀）。晶圆不同点刻蚀速率不同的情况称为非均匀性（或者称为微负载），通常以百分比表示。减少非均匀性和微负载是刻蚀的重要目标。应用材料公司一直以来不断开发具有成本效益的创新解决方案，来应对不断变化的蚀刻难题。这些难题可能源自于器件尺寸的不断缩小；所用材料的变化（例如高k薄膜或多孔较低k介电薄膜）；器件架构多样化（例如FinFET和三维NAND晶体管）；以及新的封装方式（例如硅穿孔（TSV）技术）。材料刻蚀技术可以用于制造微型结构，如微通道、微透镜和微机械系统等。合肥激光刻蚀
刻蚀技术可以用于制造光子晶体和纳米光学器件等光学器件。广州刻蚀炭材料
介质刻蚀是用于介质材料的刻蚀，如二氧化硅。干法刻蚀优点是：各向异性好，选择比高，可控性、灵活性、重复性好，细线条操作安全，易实现自动化，无化学废液，处理过程未引入污染，洁净度高。缺点是：成本高，设备复杂。干法刻蚀主要形式有纯化学过程（如屏蔽式，下游式，桶式），纯物理过程（如离子铣），物理化学过程，常用的有反应离子刻蚀RIE，离子束辅助自由基刻蚀ICP等。干法刻蚀方式比较多，一般有：溅射与离子束铣蚀，等离子刻蚀（PlasmaEtching），高压等离子刻蚀，高密度等离子体（HDP）刻蚀，反应离子刻蚀（RIE）。另外，化学机械抛光CMP，剥离技术等等也可看成是广义刻蚀的一些技术。广州刻蚀炭材料
