相位噪声的测试技术---传统的测试方法主要有直接频谱仪法、基于低通采样的鉴频法和鉴相法,另外一种就是基于带通采样的中频频谱分析法。
直接频谱仪法是一种容易、简单的相位噪声测量技术，它可以直接显示单边带相位噪声 Lp(f),精确地显示两边带上的离散信号。该方法适宜测量漂移 较小但相位噪声相对较高的信号源。其缺点是不能测量频谱纯净的源，这主要是受频谱仪的动态范围和分辨带宽的限制:不能分辨调幅噪声和相位噪声，故对调幅噪声严重的源不能直接测得相位噪声Lp(f).也不适于测量漂移严重的源的 Lp(f)。
鉴频法具有不需要参考频率源、低的宽频带噪声底部、抑制调幅、结构简单等特点。但是该方案在近载频处系统灵敏度低，宽带移相器制作困难，只适宜于测量近载频噪声电平较高，即频率随机漂移较大振荡器。 相位噪声分析仪可测量相位噪声、剩余相位噪声、附加相位噪声。北京便携式相噪分析仪销售企业
相位噪声指标是射频、微波领域一项非常关键的指标，相位噪声指标的测试是研发、设计、生产、调试必须进行测试的一项指标，测试准确度要求较高，需要考虑的因素较多。数字相位解调法不需要锁相环，无需环路带宽内的噪声抑制补偿，相同灵敏度下，极大提高测试效率。数字相位解调法非常易于实现脉冲相位噪声，附加相位噪声，脉冲附加相位噪声测试，VCO测试及瞬态测试等多项测试要求，可以极大的满足多方面测试要求。并且可以进行多种测试需求的并行测量。同时数字相位解调法测试比较简单，无需复杂的操作设置，测试速度快。尤其是数字相位解调法基础之上增加互相关算法进行测试，使得测试灵敏度极高，是目前进行相位噪声测试以及其他相关测试比较好异的测试方法和手段。 10MHz相噪分析仪AnaPcio相噪分析仪输出频率可达64GHz。
随着电子技术的发展，器件的噪声系数越来越低，放大器的动态范围也越来越大，增益也大有提高，使得电路系统的灵敏度和选择性以及线性度等主要技术指标都得到较好的解决。同时，随着技术的不断提高，对电路系统又提出了更高的要求，这就要求电路系统必须具有较低的相位噪声，在现代技术中，相位噪声已成为限制电路系统的主要因素。低相位噪声对于提高电路系统性能起到重要作用。相位噪声指标是射频、微波领域一项非常关键的指标，相位噪声指标的测试是研发、设计、生产、调试必须进行测试的一项指标，测试准确度要求较高，需要考虑的因素较多。
APPH6040提供一整套测量工具，附加相位噪声测量、直接访问双信道50MHzFFT分析器或频率计功能、时间-域瞬态及功率测量。使用可靠的互相关测量步骤和自标定程序，即使在不断变化的环境条件中，都能获得可再现的精确测量。全自动频率获取和自标定很大程度简化了仪器的使用和适用性，带来更快的测量输出和更方便的实际操作。替换一种紧凑、强大的仪器，可采用LAN（VXI-11）、USBTMC或GPIB（可选）接口。我们提供单立于平台的直观的图形用户界面（GUI）、API库和强大的SCPI命令语言集。支持的测量：附加或jue对相位噪声测量;瞬态测量 ;FFT分析器模式下带宽为50 MHz ;频率计;功率级检测器AnaPico APPH系列高性能相位噪声分析仪,其不同型号的频率范围覆盖了从1MHz到65GHz.其标配互相关测试功能。
相位噪声的概念：
相位噪声是指信号源中，输出频率的短期稳定性指标。由于相位噪声的存在，引起载波频谱的扩展。在实际应用，所有信号源的输出都存在着幅度、频率或相位的起伏，这些相位起伏的特征描述通常叫做相位噪声。
相位噪声的来源：
信号源中的杂散分量一般是由电源纹波、机械振动或系统内部鉴相信号的泄漏或其它电路的信号蜜扰，具有一定的规律性。另外一种旱随机分布的相位噪声通常是由振荡器本身内各器件所产生的各种随机噪声引起的。 AnaPico APPH系列高性能相位噪声分析仪,其不同型号的频率范围覆盖了从1MHz到65GHz.高性能相噪分析仪性价比
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相位噪声来源:指系统（如各种射频器件）在各种噪声的作用下引起的系统输出信号相位的随机变化。相位噪声是衡量频率标准源（高稳晶振、原子频标等）频稳质量的重要指标，随着频标源性能的不断改善，相应噪声量值越来越小，因而对相位噪声谱的测量要求也越来越高。相位噪声好坏对通讯系统有很大影响，尤其现代通讯系统中状态很多，频道有很密集，并且不断的变换，所以对相噪的要求也愈来愈高。如果本振信号的相噪较差，会增加通信中的误码率，影响载频跟踪精度。相噪不好不仅增加误码率和影响载频跟踪精度，还影响通信接收机道内、外性能测量。北京便携式相噪分析仪销售企业
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