相位噪声指标是射频、微波领域一项非常关键的指标，相位噪声指标的测试是研发、设计、生产、调试必须进行测试的一项指标，测试准确度要求较高，需要考虑的因素较多。数字相位解调法不需要锁相环，无需环路带宽内的噪声抑制补偿，相同灵敏度下，极大提高测试效率。数字相位解调法非常易于实现脉冲相位噪声，附加相位噪声，脉冲附加相位噪声测试，VCO测试及瞬态测试等多项测试要求，可以极大的满足多方面测试要求。并且可以进行多种测试需求的并行测量。同时数字相位解调法测试比较简单，无需复杂的操作设置，测试速度快。尤其是数字相位解调法基础之上增加互相关算法进行测试，使得测试灵敏度极高，是目前进行相位噪声测试以及其他相关测试比较好异的测试方法和手段。 APPH系列是是一款功能齐全的高性能信号源分析仪（相位噪声分析仪），其型号范围为1 MHz至7、26或40 GHz。天津相噪分析仪供应
AnaPico相位噪声分析仪是一款性价比很高的精密仪器，APPH系列相位噪声分析仪和VCO测试是一款一体式紧凑型相位噪声测量系统，具有很广的功能，可在0.01Hz至100MHz的偏移范围内实现低至-190dBc/Hz的测量。通过提供内部和外部参考选项，可以增加系统的灵活性和动态范围。内部基准可以提供快速的测量设置和快速的测量，而外部基准可以改善系统的本底噪声性能。可编程的低噪声电源和偏置调谐电压端口可用于为DUT供电，而无需使用外部电源。嘉兴相噪分析仪0.01 Hz至100 MHzAnaPcio相噪分析仪输出频率可达64GHz。
目前的相位噪声测试方法是进行直接I/Q调整测量，转换为Sf(f)，然后计算L(f)的直接数字调整方法。直接数字解调法没有相位检测器和锁相环，因此不需要修改环路带宽，从而简化了校准过程。该测试方法不仅可以测量CW相位噪声，还可以在测量相位噪声的同时测量振幅噪声，还可以使用极低的参考源相位噪声、高速互相关硬件，提高测试的灵敏度。另外，在有大信号的情况下，可以测量小水平信号的相位噪声。目前，RS相噪声分析仪FSPN和FSWP采用了这一技术。
相位噪声指标是射频、微波领域非常重要的指标，相位噪声指标的测试为研发、设计、生产、调试是必须测试的指标，测试准确度要求高，需要考虑的因素很多。数字相位调整方法包括环路锁相环、环路带宽内的噪声抑制补偿、相同的灵敏度，提高了测试效率。数字相位调整方法可以轻松实现脉冲相位噪声、附加相位噪声、脉冲附加相位噪声测试、VCO测试和瞬态测试等多种测试要求，极大地满足了各种测试要求。可以同时测量各种测试要求。同时，数字相位调整法测试比较简单，没有复杂的操作设置，测试速度较快。特别是通过在数字相位调整方法的基础上添加相互相关的算法进行测试，测试灵敏度非常高，是目前进行相位噪声测试和其他相关测试的很出色的测试方法和手段。APPH相噪分析仪操作简单，紧凑、轻便、易携带。
无论测试CW信号相位噪声还是脉冲信号的相位噪声指标，亦或是测试AM噪声等相关测试，测量结果都会受到参考源和鉴相器本身相位噪声的影响。为了进一步提高测试灵敏度，降低参考源和鉴相器的影响，可以在鉴相器法或数字相位解调法的基础之上采用互相关技术。其方法的中心为互相关电路以及互相关算法。被测信号被分成两路，一路信号与一参考信号源进行鉴相或数字解调，而另一路信号则与另一参考源进行鉴相或数字解调，两路输出信号分别进行滤波、放大和ADC采样，然后进行互相关运算。互相关技术对测量灵敏度的提高程度取决于互相关运算次数。通过对10000次测量结果求和，参考振荡器和测试系统的噪声测试性能可提高20dB。但是，随着互相关次数的增多，测试的时间会有所加长，尤其是载波近端的相位噪声测试，多次互相关将需要很长的测试时间。尤其是鉴相器法采用互相关算法时会带来较长的测试时间，而数字相位解调法基于强大的数字信号处理能力，与鉴相器法采用互相关算法相比较，测试速度会有较大的提高，提高测试的效率。AnaPico相噪分析仪本底噪声低至-190dBc/Hz.安徽一体式相噪分析仪厂家
APPH相位噪声分析仪可快速的测量设置并测量。天津相噪分析仪供应
相位噪声来源:指系统（如各种射频器件）在各种噪声的作用下引起的系统输出信号相位的随机变化。相位噪声是衡量频率标准源（高稳晶振、原子频标等）频稳质量的重要指标，随着频标源性能的不断改善，相应噪声量值越来越小，因而对相位噪声谱的测量要求也越来越高。相位噪声好坏对通讯系统有很大影响，尤其现代通讯系统中状态很多，频道有很密集，并且不断的变换，所以对相噪的要求也愈来愈高。如果本振信号的相噪较差，会增加通信中的误码率，影响载频跟踪精度。相噪不好不仅增加误码率和影响载频跟踪精度，还影响通信接收机道内、外性能测量。天津相噪分析仪供应
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