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眼图测试基本参数
  • 品牌
  • 克劳德
  • 型号
  • 通用
  • 类型
  • 网络频谱分析仪,噪声频谱分析仪,信号频谱仪
  • 安装方式
  • 台式
  • 加工定制
眼图测试企业商机

    图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加的波形或比特数量越多,则眼的张开程度会越小,就越能测到恶劣的情况,但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后,形成的不只是一个眼图,而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够,这些眼图都是很相似的,因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成的多个连续的眼图,可以看到每个眼图都是很相似的。通常情况下,为了测量的方便,一般会调整时基刻度使得屏幕上只显示一个完整的眼图。 眼图测试设备的研究与设计?智能化多端口矩阵测试眼图测试商家

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DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时,由于 BGA 信号难以探测,是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer,将 BGA 下方的信号引到 Interposer ,方便探头焊接,为了减少 Interposer 对信号带来影响,在 interposer 内专门有埋阻设计,减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应;但为了精确测量,我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌,在软件内使用多端口拓扑模型,载入 Interposer 的S 参数,生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数,在示波器中测得去嵌后的波形,下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 云南眼图测试服务热线眼图测试基本概念 原理 参数 操作步骤 测量方法 其他概念。

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眼图测量方法(传统眼图测量方法),眼图测量方法有两种:传统眼图测量方法用中文来理解是八个字:“同步触发+叠加显示”,现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字:传统的是用触发的方法,现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键,传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次,然后叠加一次。每触发一次,眼图上增加了一个UI,每个UI的数据是相对于触发点排列的,因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。

DDR4眼图测试1-2是德科技ADS仿真软件的DDR4总线仿真器,提供了统计眼图分析的功能,能够在短时间内统计计算在极低误码率(1e-16)下的DQ眼图,根据规范判断模板是否违规。另外基于总线的仿真,也很易于仿真基于串扰因素下的眼图质量。基于示波器的DDR4信号实测,可以利用大家熟悉的InfiniiScan区域触发功能,很容易分离出“写”信号,再通过Gating功能对Burst写信号做时钟恢复和眼图重建,再进行EyeContour测量,并验证1e-16误码率下的眼图模板是否违规。如果是使用一致性测试软件,就不用手动操作,软件会自动跟踪和分离波形并实现眼图测试 克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试。

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传统眼图测量方法的原理传统方法的个缺点就是效率太低。对于现在的高速信号如PCI-ExpressGen2,PCI-SIG要求测量1百万个UI的眼图,用传统方法就需要触发1百万次,这可能需要几个小时才能测量完。第二个缺点是,由于每次触发只能叠加一个UI,形成1百万个UI的眼图就需要触发1百万次,这样不断触发的过程中必然将示波器本身的触发抖动也引入到了眼图上。对于2.5GBbps以上的高速信号,这种触发抖动是不可忽略的。如何同步触发,也就是说如何使每个UI的数据相对于触发点排列?也有两种方法,一种方法是在被测电路板上找到和串行数据同步的时钟,将此时钟引到示波器作为触发源,时钟的边沿作为触发的条件。另外一种方法是将被测的串行信号同时输入到示波器的输入通道和硬件时钟恢复电路(CDR)通道,硬件CDR恢复出串行数据里内嵌的时钟作为触发源。这种同步方法引入了CDR抖动,这是传统方法的第三个缺点。一种统计眼图的测算方法及眼图分析装置?辽宁机械眼图测试系列

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DDR眼图测试1-5

,对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据,都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端,通过可视化工具,生成统计分析表格,对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果,比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。

除了在物理层信号质量和基本时序参数之外,DDR 总线的状态机复杂时序特性,以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪,同步分析速率可以达到 4Gbps,采样窗口可以低至 100mv x 100ps,单路采集样本高达 400M,对于 DDR4 的测试是非常合适的,另外配合 B4661A memory 分析软件,可以解析 DDR4 会话操作,实现 DDR4 总线的命令解码,解析 MRS,命令,行列地址,并可以直接触发物理地址捕获特定信号,利用深存储的大量样本,可以对DDR 总线的性能进行分析,包括统计内存总线有效吞吐速率,统计各种命令操作以及总线利用率,分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能,可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。 智能化多端口矩阵测试眼图测试商家

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产生抖动的原因有很多,常见的一种由于噪声引起的。 一个带噪声的数字信号及其判决。一般我们把数字信号超过阈值的状态判决为“1”,把低于阈值的状态判决为"0",由于信号的上升沿不是无限陡的,所以噪声会引起信号过阈值点时刻的左右变化,这就是由噪声引起的信号抖动。由于噪声是随机的、无界的,因此造成的随机抖动也是随机的、无界的、也就是说理论上随着样本数的增加随机抖动的峰峰值是无穷大,所以通常用随机抖动的RMS值而不是峰峰值来衡量随机抖动的大小。理想的随机抖动应该是一个高斯分布,所以有时候也会根据系统误码率的要求,对随机抖动的RMS值乘以一个系数,再和确定性抖动一起计算系统的总体抖动。随机抖动的...

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