从硅圆片制成一个一个的半导体器件，按大工序可分为前道工艺和后道工艺。前道工艺的目的是“在硅圆片上制作出IC电路”，其中包括300～400道工序。按其工艺性质可分为下述几大类：形成各种薄膜材料的“成膜工艺”；在薄膜上形成图案并刻蚀，加工成确定形状的“光刻工艺”；在硅中掺杂微量导电性杂质的“杂质掺杂工艺”等。前道工艺与后道工艺的分界线是划片、裂片。后道工艺包括切分硅圆片成芯片，把合格的芯片固定（mount）在引线框架的中心岛上，将芯片上的电极与引线框架上的电极用细金丝键合连接（bonding）。刻蚀是与光刻相联系的图形化处理的一种主要工艺。辽宁化合物半导体器件加工公共服务平台
MEMS制造是基于半导体制造技术上发展起来的；它融合了扩散、薄膜（PVD/CVD）、光刻、刻蚀（干法刻蚀、湿法腐蚀）等工艺作为前段制程，继以减薄、切割、封装与测试为后段，辅以精密的检测仪器来严格把控工艺要求，来实现其设计要求。MEMS制程各工艺相关设备的极限能力又是限定器件尺寸的关键要素，且其相互之间的配套方能实现设备成本的较低；MEMS生产中的薄膜指通过蒸镀、溅射、沉积等工艺将所需物质覆盖在基片的表层，根据其过程的气相变化特性，可分为PVD与CVD两大类。辽宁化合物半导体器件加工公共服务平台刻蚀是半导体制造工艺以及微纳制造工艺中的重要步骤。
硅片在进入每道工序之前表面必须是洁净的，需经过重复多次的清洗步骤，除去表面的污染物。芯片制造需要在无尘室中进行，在芯片的制造过程中，任何的沾污现象都将影响芯片上器件的正常功能。沾污杂质具体指半导体制造过程中引入的任何危害芯片成品率以及电学性能的物质。具体的沾污物包括颗粒、有机物、金属和自然氧化层等，此类污染物包括从环境、其他制造工艺、刻蚀副产物、研磨液等。上述沾污杂质如果不及时清理均可能导致后续工艺的失败，导致电学失效，较终会造成芯片报废。
湿化学蚀刻普遍应用于制造半导体。在制造中，成膜和化学蚀刻的过程交替重复以产生非常小的铝层。根据蚀刻层横截面的几何形状，由于应力局部作用在蚀刻层上构造的层上，经常出现裂纹。因此，通过蚀刻产生具有所需横截面几何形状的铝层是重要的驱动环节之一。在湿化学蚀刻中，蚀刻剂通常被喷射到旋转的晶片上，并且铝层由于与蚀刻剂的化学反应而被蚀刻。我们提出了一种观察铝层蚀刻截面的方法，并将其应用于静止蚀刻蚀刻的试件截面的观察。观察结果成功地阐明了蚀刻截面几何形状的时间变化，和抗蚀剂宽度对几何形状的影响，并对蚀刻过程进行了数值模拟。验证了蚀刻截面的模拟几何形状与观测结果一致，表明本数值模拟可以有效地预测蚀刻截面的几何形状。单晶硅生产工艺：加料：将多晶硅原料及杂质放入石英坩埚内，杂质的种类依电阻的Ｎ或Ｐ型而定。
光刻工艺是半导体器件制造工艺中的一个重要步骤，该步骤利用曝光和显影在光刻胶层上刻画几何图形结构，然后通过刻蚀工艺将光掩模上的图形转移到所在衬底上。这里所说的衬底不只包含硅晶圆，还可以是其他金属层、介质层。光刻的优点是它可以精确地控制形成图形的形状、大小，此外它可以同时在整个芯片表面产生外形轮廓。不过，其主要缺点在于它必须在平面上使用，在不平的表面上它的效果要差一些。此外它还要求衬底具有极高的清洁条件。芯片封装后测试则是对封装好的芯片进行性能测试，以保证器件封装后的质量和性能。辽宁化合物半导体器件加工公共服务平台
晶片的制造和测试被称为前道工序，而芯片的封装、测试和成品入库则是所谓的后道工序。辽宁化合物半导体器件加工公共服务平台
微流控技术是以微管道为网络连接微泵、微阀、微储液器、微电极、微检测元件等具有光、电和流体输送功能的元器件，较大限度地把采样、稀释、加试剂、反应、分离、检测等分析功能集成在芯片上的微全分析系统。目前，微流控芯片的大小约几个平方厘米，微管道宽度和深度(高度)为微米和亚微米级。微流控芯片的加工技术起源于半导体及集成电路芯片的微细加工，但它又不同于以硅材料二维和浅深度加工为主的集成电路芯片加工技术。近来，作为微流控芯片基础的芯片材料和加工技术的研究已受到许多发达国家的重视。辽宁化合物半导体器件加工公共服务平台
