SPC控制图(ControlChart)一种对生产过程的关键质量特性值进行测定、记录、评估并监测过程是否处于控制状态的一种图形方法。**早的控制图是由美国贝尔电话实验室的休姆哈特博士在1924年提出的P图(PChart),后来此类控制图都被叫做休姆哈特控制图,休哈特也被誉为“统计质量控制SPC之父”。从休姆哈特的P图算起,SPC理论从创立到***已接近百年。SPC理论创立之初,恰逢美国大萧条时期,该理论当时无人问津。后来二次世界大战时,SPC理论在帮助美国军方提升武器质量方面大显身手,于是战后开始风行全世界。不过二战后,美国无竞争对手,产品横行天下,SPC在美国并没有得到***重视。日本二战战败后被美国接管,为了帮助日本的战后重建,美国军方邀请戴明博士到日本讲授SPC理论。1980年日本已居世界质量与劳动生产率的领导地位,其中一个重要的原因就是SPC理论的应用。1984年日本名古屋工业大学调查了115家日本各行业的中小型工厂,结果发现平均每家工厂采用137张控制图。因此,SPC无论是在欧美还是日本,都是非常重要的质量改进工具,所以大家有必要去深入认识SPC、应用SPC和推广SPC。MICROVU影像测量仪售后维修电话.江苏三次元影像测量仪服务保障
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与SPC相关的几个重要的概念 1. 变差 就像世界上没有两张完全相同的树叶一样,任何一个工厂,无论其生产技术多么先进,从其生产线出来的同一种产品或多或少总会存在一些差异,这种差异就是变差。比如,同一生产线生产出的一批合格螺栓,长度不可能做到完全一样。 2. 普通原因 vs 特殊原因 同样的道理,为什么两个相同的汉堡并不能保证其重量完全相等呢?这是因为制作汉堡的工艺流程不可能保证每一个汉堡的重量***的一样,总会存在一些细微差异。只不过作为顾客的我们能够接受这样的差异。我们把导致这种普遍的、固有的、可接受的变差的原因,叫做普通原因 。 但是如果哪天你买了两个同样的汉堡,却发现其中一个汉堡中间完全没有加蔬菜,这不再是常见的、普通的变差了,而是有某种特殊原因导致的变差,比如员工的操作失误。这种变差往往是顾客不能接受的。我们把导致这种非普遍的、非固有的、异常的变差的原因叫做特殊原因 。 3.受控 vs 不受控 如果一个过程**只有普通原因引起的变差,我们就说这个过程受控。 如果一个过程存在特殊原因引起的变差,我们就说这个过程不受控。 控制图的作用就是帮助我们发现并消除导致过程变异的特殊原因,使过程从不受控变成受控。
影像测量仪是基于机器视觉集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的精密测量仪器。它能够对平面零件的几何参数(如:长度、宽度、弧度、直/半径、角度、孔距等)进行非接触式的微米级测量。它有效地解决了人工测量偏差和一次成像范围测量精度的矛盾,测量速度是传统测量仪器的10倍及以上,大幅提高了测量效率和测量精度,消除人为误差,实现了零件精密测量的自动化和智能化。应用行业:影像测量仪主要应用于精密机械、五金、模具、塑胶、电子元器件、汽车零部件、粉末冶金、磁性材料、密封件、标准件、钣金等行业。被测量零件的几何参数均可一键获取;♦操作简便,无需夹具定位工件,可任意摆放,只需按一键即可实现单/多个待测件测量;♦高精度,测量精度高于其他同类测量仪器;♦测量速度快,♦可输出检测报告或打印检测报表;♦替代人工测量,消除人为误差,提供工作效率。♦适应各种现场加工环境,可以在车间现场正常运行。MICROVU影像测量仪多少钱一台.
光学影像测量仪是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。由光学放大系统对被测物体进行放大,经过CCD摄像系统采集影像特征并送入计算机后,可高效地检测各种复杂精密零部件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,进行微观检测与质量控制。 真正的光学影像测量仪(又名影像式测绘仪)是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个设备的主体。它能快速读取光学尺的位移数值,通过建立在空间几何基础上的软件模块运算,瞬间得出所要的结果;并在屏幕上产生图形,供操作员进行图影对照,从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。 MICROVU影像测量仪可以添加激光传感器测量平面度吗.重庆三次元影像测量仪保养
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