4.角度
在检测中,超声波束的轴线应尽量与缺陷垂直。因此,角度的选择应根据试件中缺陷的类型和位置以及工件允许的探伤条件来选择。根据反射和折射定律以及相关的几何知识,选择合适角度的探头。以探头的K值为例,折射角对探测灵敏度、波束轴线方向、主波声程(入射点到底反射点的距离)有很大影响。当β=40°(k=0.84)时,声压的往复传播率较高,即检测灵敏度较高。
可以看出,K值越大,β值越大,主波的声程越大。因此,当工件厚度较小时,应选择较大的K值,以增大一次波的声程,避免近场检测。
如果采用水湿成像,则在水洗后直接成像,然后进行干燥处理。对于溶剂去除规则,不需要特殊的干燥处理。绍兴黑油探伤剂价格通过以上分析可知,频率对超声波探伤影响很大,频率高,检测灵敏度和分辨率高,波束指向性好,有利于探伤。但高频、近场区长、介质衰减大,不利于探伤。因此,在选择探头频率时,应综合考虑各种因素,合理选择。一般来说,在满足探伤灵敏度要求的前提下,尽量选用频率较低的探头;对于晶粒较细的锻件、轧件和焊件,一般选用频率较高的探头,一般为2.5-5.0mhz。对于粗晶铸件、奥氏体钢等工件,应选用软低频探头,一般为0.5~2.5MHz,否则频率过高,超声波能量将严重衰减。上海黑水探伤剂代理商工件的几何形状对磁粉探伤影响较大,而对渗透探伤影响不大。
在荧光探伤用LED灯的选择中,峰值波长是重要的因素。在以前的荧光渗透剂和荧光磁粉配方的研究和开发中,汞蒸气一直被用作紫外线光源。汞蒸气光源在365.4nm处产生单一的UV-a峰,即汞的发射线。因此,在所有荧光渗透剂和荧光磁粉的研发和制造中,染料的选择要求它们能在365nm的紫外辐射下发出荧光。发光二极管(LED)发射的紫外线的峰值波长是可变的,这取决于内部半导体的掺杂。为了保证led UV-A灯能使荧光渗透剂和荧光磁粉产生荧光,led的峰值波长必须在360-370nm范围内。
磁粉检测是基于磁粉在漏磁场中聚集形成磁痕显示缺陷。磁痕显示的程度不仅与缺陷性质、磁化程度、磁粉应用方法和工件显示状态有关,还与磁性、粒径、形状、密度活度、识别等磁粉性质有关;对于干法使用的干磁粉,粒径范围在10-60μm范围内较好;对于湿法黑磁粉和红色磁粉,粒径范围在1-10μm范围内效果较好,灵敏度随粒径的减小而增大。
磁粉分为以下几种:
非荧光磁粉:包括黑、红、灰、蓝、白。它是由三氧化二铁或三氧化二铁粉末经染色或其他方法处理成不同颜色。
荧光磁粉:以磁性氧化铁粉、工业纯铁粉、羰基铁粉为芯,外涂一层荧光材料。在紫外光照射下,能发出亮黄绿色荧光,与工件表面颜色形成强烈反差。荧光磁粉检测小缺陷能力强,灵敏度高。一般只用于湿试验。
特殊磁粉:如高温磁粉,能长时间附着在工件上,一般采用干粉供应。
然后,在适当的光照条件下,可以揭示缺陷的位置和形状,并观察和解释这些磁粉的积聚。3.探针晶片尺寸
探针晶片的形状一般为圆形和方形。探头的芯片尺寸对超声波探伤结果有一定的影响,选择时主要考虑以下因素。
1) 半扩散角。根据扩散角公式,随着晶片尺寸的增大,半扩散角减小,波束指向性好,超声能量集中,有利于缺陷检测。
2) 探伤近场区。根据近场长度公式,近场区长度随晶圆尺寸的增加而增大,不利于缺陷检测。
3) 晶圆尺寸大,辐射超声能量强,探头未显影区扫描范围大,远程缺陷检测能力增强。
对于探伤面积较大的工件,应选用大型圆片探头,以提高探伤效率;对于厚度较大的工件,应采用大型圆片探头,以便有效地检测远距离缺陷;对于小型工件,为了提高缺陷的定位和定量精度,应采用小型芯片探头;对于表面不平整、曲率较大的工件,应减少耦合损耗,应选用小型芯片探头。 磁化后,材料不连续处的磁场会发生畸变,在工件表面产生漏磁场,吸引磁粉在缺陷处形成磁粉堆积,即磁痕。嘉兴E-ST探伤剂质量保证
着色渗透剂是常用的检测方法,主要用于检测如焊接裂纹、疲劳裂纹、应力腐蚀裂纹、磨削裂纹、淬火裂纹等。绍兴黑油探伤剂价格
渗透检测,俗称渗透检测,是一种基于毛细管作用原理的无损检测方法,用于检测表面开口缺陷。
它与射线检测、超声波检测、磁粉检测和涡流检测一起被称为五种常规无损检测方法。渗透检测始于本世纪初,是继目测之外很早的无损检测方法。
由于渗透检测的独特优势,被广泛应用于现代工业的各个领域。
国外研究表明,渗透检测法检测表面点线缺陷的概率高于磁粉检测法,是较有效的表面检测方法。
渗透探伤工作原理:
在毛细管的作用下,渗透剂渗入表面开孔缺陷;
去除工件表面多余的渗透剂后,缺陷中的渗透剂会通过显影剂的毛细作用吸附到工件表面,形成痕迹,说明缺陷的存在。这种方法称为渗透探伤。
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