半导体探测器是60年代以来迅速发展起来的一种新型的射线探测器。它经常被应用于各个领域，不同类型的半导体探测器在不同的方面都有其自身的特点。按形成半导体探测器PN结的方法，可将其分为两种：离子注入型和表面位垒型。离子注入半导体探测器在我国尚未被普遍使用，其辐射剂量特性正在开发当中，因而有很大的研究空间。钝化离子注入平面硅 (Pas-sivated Implanted Planar Silian，简称PIPS) 探测器，是半导体钝化离子注入的新工艺产品。 新漫有成熟的产品和良好的售后服务，得到了众多用户的肯定。大兴**alpha谱仪产品原理
PA系列测试结束后数据会被保存至默认位置。用户想要打开谱图，可以点击“谱分析”→“感兴趣区域”→“添加区域”，点击“感兴趣区域信息”可以查看区域内的计数等信息。如果想要进行核素分析，可以点击“寻峰”→“核素识别”，点击“峰信息”还可以查看谱峰的核素信息。单击测试通道所在的窗口，选择所测试的通道，点击“泄压”，使测量腔室恢复常压，打开测量腔室门，取出样品。测试完成后注意依次关闭真空泵、α谱仪和计算机的电源。
谱图分析中可以进行寻峰、核素识别。只要点击寻峰，谱分析软件就会自动寻峰。若已加载核素库和能量刻度，点击核素识别，就可以直接寻峰并核素识别。还可以点击峰信息，显示谱峰信息，查看峰位、峰边界、半高宽、峰面积等信息。
谱图分析中可以进行能量刻度，进行能量刻度是定性分析的前提条件，能量刻度后可对所测样品进行定性分析。用户可以填写已知刻度源的能量信息（道址与核素库能量），点击“校准”，进行拟合校准，点击“使用刻度”应用到当前谱图。可将刻度好的信息进行保存，方便下次使用。
新漫部分产品数据通信和智能功能。
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