可放在仪器工作台上之v型块（17）上进行测量。如被测量零件较大，不能安放在仪器工作台上，则可放松旋手五、9j光切法显微镜的使用与操作方法（一）光切法显微镜可用测微目镜测出表面平面度平均高度值rz，按国家标准，平面度平均高度值rz与表面粗糙度级别的关系如表2所示。表2平面度平均高度值rz/um相当于原精度等级50-10在测量时，所测量的表面范围不少于五个波峰。为使测量能正确迅速地进行，要求按表1内所列的数据选择物镜。（二）被检工作物的安放和显微镜调焦1．被检工件放在工作台上时，测量表面之加工纹路应与显微镜光轴平面平行，即与狭缝像垂直。并使测量表面平行于工作台平面（准确到1°）；对于圆柱形或锥形工件可放在工作台上之v型块（17）上。2．选择适当的物镜插在滑板上，拆下物镜时应先按下手柄（12），插入所需的物镜后，放松手柄即可。将仪器木箱正门打开，拆除固定仪器的木枕和压块即可将仪器从箱内取出。松开粗动旋手（图2（a）（6））将显微镜升高，把支撑木块（图5（1））卸去，取出附件箱（图5（2））中的物镜、电源（可调变压器）和其它附件并装上仪器后，即可使用。六、9j光切法显微镜的维修和保养光切法显微镜系精密光学仪器。汇集了数码显微镜的强大拓展、视频显微镜的直观显示和便携式显微镜的简洁方便等优点。南京多功能显微镜高质量的选择
测量振荡微悬臂的振幅或相位变化，也可以对样品表面进行成像。2.摩擦力显微镜摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1摩擦力显微镜扫描及力检测示意图图1示出了LFM扫描及检测的示意图。一般接触模式原子力显微镜（AFM）中，探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描（或样品在探针下扫描）。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器，由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值（A+B）-（C+D）得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定，也就是微悬臂形变量恒定，从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中，探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中，（A+C）-（B+D）这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减（增加摩擦力导致更大的扭转）。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。淄博口碑好显微镜厂家显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志。
仪器名称：透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscope,TEM)仪器型号：100KV钨灯丝、六硼化镧，200KV场发射生产厂家：德国ZEISS，美国FEI，日本JEOL、HITACHI应用范围：(1)材料超微结构与性能的表征与分析，具体包括纳米材料和纳米结构、晶体结构与电子衍射、元素分析等;(2)组织、细胞、微生物等样品的超微结构观察。实例：1、细胞超微结构(需固定、包埋、超薄切片)2、纳米材料(碳纳米管)3、晶体材料的.辨像风险提示：丁香通*作为第三方平台，为商家信息发布提供平台空间。用户咨询产品时请注意保护个人信息及财产安全，合理判断，谨慎选购商品，商家和用户对交易行为负责。对于医疗器械类产品，请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。
它们各成像在分划板的a和a′点。在目镜中观察到的即为具有与被测表面一样的齿状亮带，通过目镜的分划板与测微器测出a点至a′点之间的距离n，被测表面的微观平面度h即为h=（1）式中：v—物镜放大倍数。四、9j光切法显微镜的结构仪器的结构如图示2（a）、图2（b）所示。基座（1）上装有立柱（2），显微镜的主体通过横臂（5）和立柱联结，转动手轮（3）将横臂（5）沿立柱（2）上下移动，进行显微镜粗调焦，而后用旋手（6）将横臂紧固在立柱上。显微镜的光学系统压缩在一个封闭的壳体（18）内，在壳上装有可替换的物镜组（13）（它们插在滑板上用手柄（12）借弹簧力固紧），测微目镜（11）、照明灯（7）及摄像装置的插座（10）等。微调手轮（4）用于显微镜的精细调焦。仪器的数码相机适配镜（9）装在插座（10）处（使用时需将防尘盖拿去），可与测微目镜（11）并用。摄像时，装上数码相机适配镜（9）及数码相机（8），此时将手轮（21）转向摄像部位即可进行摄像（数码相机和适配镜选购）。在仪器的坐标工作台（16）上，利用手轮（15）可对工件进行坐标测量与调整，松开旋手（14）并可作360°转动；对平面形工件，可直接放在工作台上进行测量；对圆柱形工件。(2) 相位环(环状光圈)是根据每种物镜的倍率，而有大小不同，可用转盘器更换。
一、9j光切法显微镜的用途9j光切法显微镜以光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状；在不破坏表面的条件下，测出截面轮廓的微观平面度和沟槽宽度的实际尺寸；此外，还可测量表面上个别位置的加工痕迹和破损。本仪器适用于测量，但只能对外表面进行测定；如需对内表面进行测定，而又不破坏被测零件时，则可用一块胶体把被测面模印下来，然后测量模印下来的胶体的表面。二、9j光切法显微镜的规格仪器的示值相对误差（分段计）5%-24%摄像装置放大倍数≈6×测量平面度范围≈（）um平面宽度用测微目镜≈（）mm用坐标工作台≈（）mm仪器质量≈23kg仪器外形尺寸（l×b×h）mm180×290×470其余见表1表1测量范围（平面度平均高度值）/um表面粗糙度级别所需物镜总放大倍数物镜组件与工件的距离/mm视场/mm960×∞*510x8-730×∞*260x6-514×∞*120x20-804-37×∞*60x*物镜的光学筒长三、9j光切法显微镜的工作原理仪器是采用光切法测量被测表面的微观平面幅度，其工作原理，狭缝被光源发出的光线照射后，通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面，被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后，表面的波峰在s点产生反射。物粗准焦螺旋，细准焦螺旋，压片夹，通光孔，遮光器，转换器，反光镜，载物台，镜臂，镜筒，镜座，聚光器。东营多功能显微镜质量推荐
光学显微镜 通常皆由光学部分、照明部分和机械部分组成。无疑光学部分是**为关键的，它由目镜和物镜组成。南京多功能显微镜高质量的选择
▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源：公开资料5图像类别（1）明暗场衬度图像明场成像（Brightfieldimage）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像（Darkfieldimage）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（2）.辨TEM（HRTEM）图像HRTEM可以获得晶格条纹像（反映晶面间距信息）；结构像及单个原子像（反映晶体结构中原子或原子团配置情况）等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（3）电子衍射图像l选区衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:纳米级微小区域结构特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:纳米级微小区域结构特征。南京多功能显微镜高质量的选择
茂鑫实业（上海）有限公司创立于2014-08-07，是一家贸易型公司。茂鑫实业致力于为客户提供质量的[ "清洁度检测仪", "孔隙率检测仪", "徕卡显微镜", "3D扫描仪" ]，一切以用户需求为中心,深受广大客户的欢迎。公司将不断增强企业核心竞争力，努力学习行业先进知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。在社会各界的鼎力支持下，经过公司所有人员的努力，公司自2014-08-07成立以来，年营业额达到1000-2000万元。
