企业商机
光学非接触应变测量基本参数
  • 品牌
  • Correlated Solutions
  • 型号
  • VIC-2D, VIC-3D, VIC-Volume
光学非接触应变测量企业商机

光学非接触应变测量具有许多优势,其中较重要的是其高灵敏度。光学传感器可以通过测量物体表面的微小位移来计算应变量,因此具有很高的灵敏度。相比之下,传统的接触式应变测量方法需要对传感器进行校准,而且受到传感器自身的刚度限制,灵敏度较低。光学非接触应变测量方法可以实现对微小应变的准确测量,对于一些对应变测量要求较高的应用场景非常适用。例如,在材料研究和工程应用中,对材料的应变进行精确测量是非常重要的。光学非接触应变测量方法可以实时监测材料的应变变化,提供准确的数据支持。此外,光学非接触应变测量方法还具有非常好的空间分辨率。光学传感器可以通过光束的聚焦来实现对微小区域的测量,因此可以提供高分辨率的应变数据。这对于需要对材料的局部应变进行研究和分析的应用非常有帮助。另一个优势是光学非接触应变测量方法的非破坏性。传统的接触式应变测量方法需要将传感器与被测物体直接接触,可能会对被测物体造成损伤。而光学非接触应变测量方法可以通过光束与被测物体之间的相互作用来实现测量,不会对被测物体造成任何损伤。光学应变测量快速实时,适用于动态应变分析和实时监测。贵州VIC-2D数字图像相关技术变形测量

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光学应变测量主要用于测量物体的应变分布,可以应用于材料力学、结构工程、生物医学等领域。它可以提供物体表面应变的定量信息,对于研究物体的力学性质和结构变化具有重要意义。而光学干涉测量主要用于测量物体表面的形变,可以应用于光学元件的制造、光学镜面的检测、光学薄膜的质量控制等领域。它可以提供物体表面形变的定性信息,对于研究物体的形状变化和表面质量具有重要意义。总结起来,光学应变测量和光学干涉测量是两种不同的光学测量方法。光学应变测量通过测量物体表面的应变来获得物体应力状态的信息,而光学干涉测量通过测量物体表面的形变来获得物体形状和表面质量的信息。它们在测量原理和应用领域上有着明显的不同,但都在科学研究和工程应用中发挥着重要的作用。重庆扫描电镜非接触式测量装置光学非接触应变测量通过反射衍射原理进行测量。

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采用相似材料结构模型实验的手段,以钢筋混凝土框架结构为研究对象,通过数字散斑的光学非接触应变测量方式,可以获取强烈地震作用下模型表面的三维全场位移及应变数据。然而,应变计作为应变测量的工具,存在着贴片过程繁琐、测量精度严重依赖其贴片质量、对环境温度敏感等问题。此外,应变计无法进行全场测量,难以捕捉到关键位置的变形出现的初始位置。当框架结构发生较大范围的变形或断裂时,应变计容易损坏,影响测试数据的质量。

研索仪器基于 DIC 技术构建的产品矩阵,展现了光学非接触测量的全场景适配能力。作为美国 Correlated Solutions 公司(全球 DIC 技术创始者)的中国区合作伙伴,研索仪器引入的 VIC 系列产品涵盖从平面到立体、从静态到动态的全维度测量需求。VIC-2D 平面应变场测量系统以超过 1,000,000 数据点 / 秒的处理速度,支持光学畸变与 SEM 漂移校正,成为材料平面力学测试的高效工具;VIC-3D 表面应变场测量系统则实现了多尺度、多物理场的综合测量,其行业前沿的精度与可重复性,可满足从微观材料到大型结构的复杂测试需求。光学非接触应变测量利用光的干涉、散射或吸收特性推断材料的应变情况。

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建筑物变形测量的基准点应设置在受变形影响的厂房围墙外。位置应稳定,易于长期存放,避免高压线路。基准点用记号石或记号笔埋设,埋设稳定后即可进行变形测量。稳定期应根据观测要求和地质条件确定,不少于7天。基准应定期进行测试和复测,并应符合以下规定:基准的复测期应根据其位置的稳定性确定。在施工过程中,应每1-2个月进行一次复测,并在施工完成后每季度或半年进行一次。当发现基准在一定时间内可能发生变化时,应立即重新测试。光学非接触应变测量应用于光学元件的应变测量。江苏全场非接触式变形测量

可以通过数字散斑的光学非接触应变测量方式,获取强烈地震作用下模型表面的三维全场位移及应变数据。贵州VIC-2D数字图像相关技术变形测量

测量应变的方法有多种,其中比较常用的是应变计。应变计的电阻与设备的应变成正比关系。粘贴式金属应变计是应变计中比较常用的一种,由细金属丝或按栅格排列的金属箔组成。格网状的设计可以使金属丝/箔在并行方向中应变量较大化。格网可以与基底相连,基底直接连接到测试样本,因此测试样本所受的应变可以直接传输到应变计,引起电阻的线性变化。应变计的基本参数是其对应变的灵敏度,通常用应变计因子(GF)来表示。GF是电阻变化与长度变化或应变的比值。贵州VIC-2D数字图像相关技术变形测量

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