定制化GEN3 AUTOCAF测试设备

杭州国磊GT600提供512个数字通道，并可扩展至2048通道，配合16个通用插槽，构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时，512通道可完全覆盖其I/O需求，无需复用或分时测试，确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡（AWG/TMU）、电源板卡（DPS/SMU），实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如，测试智能座舱芯片时，部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑，另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC，再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求，从低引脚MCU到高集成SoC，一机通测，大幅降低企业设备采购与维护成本。国磊GT600每通道集成PPMU，支持nA级电流分辨率，可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。定制化GEN3 AUTOCAF测试设备

支持复杂测试向量导入，加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式，便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE（自动测试设备）可执行的测试向量。例如，可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列，验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现，从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。金华PCB测试系统市场价格国磊GT600SoC测试机有灵活的硬件配置和开放的软件平台，适配多种工艺节点、封装形式和功能架构的SoC。

智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进，车载计算平台对SoC（系统级芯片）的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元，用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而，如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度，能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景，为芯片从设计到量产提供坚实保障。

数据中心芯片的“能效裁判” 在“双碳”目标下，数据中心能耗成为焦点，芯片能效比（Performance per Watt）成为**指标。杭州国磊GT600通过PPMU精确测量AI加速芯片、服务器CPU的静态与动态功耗，结合FVMI（强制电压测电流）模式，绘制完整的功耗-性能曲线，帮助设计团队优化电压频率调节（DVFS）策略。其FIMV模式还可检测芯片在高负载下的电压跌落，防止因供电不稳导致死机。杭州国磊GT600支持长时间稳定性测试，模拟数据中心7x24小时运行场景，筛选出“耐力型”芯片。512站点并行测试大幅降低单颗芯片测试时间与成本，适配万片级量产需求。杭州国磊GT600不仅是性能的验证者，更是能效的“精算师”，助力国产芯片在绿色计算时代赢得市场。国磊GT600SoC测试机支持GT-AWGLP02任意波形发生器板卡，THD达-122dB，适用于HBMSerDes接收端灵敏度测试。

    杭州国磊（Guolei）的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片（SoC）量产与工程验证的自动测试设备（ATE），其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计，但在当前科技融合加速发展的背景下，国磊SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求，目前实用化的量子处理器（如超导量子比特、硅基自旋量子比特）本身无法**工作，必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器（AWG）、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器（DAC/ADC）以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC，需在极端条件下（如低温、低噪声）进行功能与参数验证。国磊（Guolei）GT600配备的高精度AWG板卡（THD达-122dB）、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元（10ps分辨率），恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性，从而间接支撑量子系统的稳定运行。 国磊GT600支持多Site并行测试，提升电源管理芯片、运放等高量产型号的测试效率与产能。广州SIR测试系统厂家

国磊GT600支持选配高精度浮动SMU板卡，可在-2.5V至7V范围内精确施加电压，监测各电源域的动态与静态电流。定制化GEN3 AUTOCAF测试设备

AI芯片的可靠性不仅取决于逻辑功能正确，更在于能否在复杂算法流下稳定运行。GT600每通道提供高达128M的向量存储深度，远超行业平均水平，使得测试工程师能够加载完整的Transformer推理序列、CNN图像处理流程甚至轻量化大模型的执行轨迹进行回放测试。这种“场景级验证”能有效捕获传统短向量测试难以发现的边界异常、缓存***或功耗尖峰。对于强脑科技、宇树科技等开发**AI硬件的企业而言，GT600提供的不仅是功能覆盖，更是对实际使用环境的高度模拟，从而***提升产品鲁棒性，降低售后故障率，真正实现“测得准、用得稳”。定制化GEN3 AUTOCAF测试设备