Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet(芯粒)技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成,突破摩尔定律瓶颈,成为先进制程的重要方向。然而,小芯片间的高速互联(如UCIe)对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度,可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块(Micro-bump)的供电稳定性,检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗,确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展,可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***,杭州国磊GT600以高精度互联验证能力,为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠(或关断模式下静态漏电流。绝缘电阻测试系统市场价格

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器(CIS)和图像信号处理器(ISP)对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法(如降噪、边缘增强),并通过AWG注入模拟图像信号,验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流,筛选出“省电体质”芯片;其支持长时间老化测试,可模拟10年以上使用寿命,确保植入后万无一失。 综上,国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力,为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。杭州国磊CAF测试系统厂家国磊GT600SoC测试机支持Real-time与Pattern-triggered频率测试模式,适用于HBM时钟网络稳定性分析。

杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计,但在当前科技融合加速发展的背景下,国磊SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求,目前实用化的量子处理器(如超导量子比特、硅基自旋量子比特)本身无法**工作,必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器(AWG)、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器(DAC/ADC)以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC,需在极端条件下(如低温、低噪声)进行功能与参数验证。国磊(Guolei)GT600配备的高精度AWG板卡(THD达-122dB)、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元(10ps分辨率),恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性,从而间接支撑量子系统的稳定运行。
智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进,车载计算平台对SoC(系统级芯片)的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元,用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而,如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度,能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景,为芯片从设计到量产提供坚实保障。国磊GT600SoC测试机通过PPMU测量芯片在不同电源域下的静态电流,精度达nA级,适用于低功耗模式验证。

杭州国磊(Guolei)SoC测试系统(以GT600为**)虽主要面向高性能系统级芯片(SoC)的数字与混合信号测试,但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力,能够有效支持多种MEMS(微机电系统)。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景:1.惯性测量单元(IMU)IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统,通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪(6DoF)甚至磁力计(9DoF)。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊(Guolei)支持点:利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出;通过TMU(时间测量单元)验证陀螺仪响应延迟与带宽;使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序(眼图、抖动);PPMU每引脚**供电,精确测量各工作模式功耗。 GT600支持采用开源CPU核与自研NPU的异构SoC数字逻辑、模拟模块与低功耗策略的综合验证。绝缘电阻测试系统制作
国磊GT600数字通道边沿精度100ps,确保模拟IC控制信号(如Enable、Reset)的建立与保持时间精确验证。绝缘电阻测试系统市场价格
国磊(Guolei)SoC测试系统,特别是其GT600高性能测试平台,在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下,对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备(ATE)是芯片制造后道工序的**装备,长期被美国泰瑞达(Teradyne)、日本爱德万(Advantest)等国际巨头垄断,尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域,国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破,具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖,避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。绝缘电阻测试系统市场价格
对于时间测量要求极高的场景(如ADAS传感器信号),杭州国磊GT600可选配高精度TMU(时间测量单元,分辨率10ps),精确捕捉信号延迟与抖动,确保通信实时性。 再次,GT600支持混合信号测试。 现代车规芯片(如智能座舱、域控制器SoC)集成了CPU、GPU、ISP、音频编解码等模块。国磊GT600通过可选AWG板卡生成高保真模拟信号,测试摄像头ISP的图像处理能力;通过高速数字通道验证CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***,国磊GT600的512站点并行测试能力,大幅提升了车规芯片的量产效率,降低了单颗测试成本,助力国产车规芯片快速上车。国磊GT600测试系统只需通过“配...