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测试系统基本参数
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  • 齐全
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可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。实时电流监测与快速数据采集,完整掌握电化学反应过程。广东高阻测试系统

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杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊PCB测试系统定制国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能,可用于BGR(带隙基准)温度特性与电源抑制比(PSRR)自动化测试。

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    车规级MEMS传感器包括用于ESP车身稳定系统的高g加速度计、发动机歧管压力传感器等,需满足AEC-Q100认证。杭州国磊(Guolei)支持点:支持-40℃~125℃环境应力测试(通过GPIB/TTL对接温箱);高可靠性测试流程(如HAST、HTOL前后的参数对比);数据自动记录为STDF格式,便于车厂追溯与良率分析;每引脚PPMU检测早期失效(如漏电流异常)。生物医疗MEMS如植入式压力传感器、微流控芯片控制器,对低功耗与长期稳定性要求极高。杭州国磊(Guolei)支持点:nA级静态电流测量(PPMU);**噪声激励与采集,避免干扰生物信号;支持长期老化测试中的周期性参数回读。杭州国磊(Guolei)SoC测试系统不直接测试MEMS的机械或物理特性(如谐振频率、Q值、位移等),但***覆盖MEMS产品中不可或缺的电子控制与信号处理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能与可靠性验证。在消费电子、汽车电子、工业物联网和新兴智能硬件领域,杭州国磊(Guolei)GT600已成为国产MEMS厂商实现高精度、高效率、低成本、自主可控测试的重要平台,有力支撑中国MEMS产业链从“制造”向“智造”升级。

手机SoC的“全能考官” 现代手机SoC(如麒麟、澎湃)是高度集成的“微型超级计算机”,融合CPU、GPU、NPU、ISP、基带等数十个模块。杭州国磊GT600凭借512通道与16个通用插槽,可灵活配置数字、模拟、混合信号测试资源,实现“一机通测”。其高速数字通道验证CPU/GPU逻辑功能;可选AWG板卡生成图像信号,测试ISP的色彩还原与降噪能力;TMU精确测量基带信号时序,保障5G通信稳定。PPMU则检测NPU待机功耗,确保AI功能“强劲且省电”。128M向量深度支持长周期AI算法验证,避免测试中断。杭州国磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的测试能力,为国产手机SoC从研发到量产保驾护航,让中国芯在**手机市场更具竞争力。从实验室验证到量产测试,我们提供全流程支持。

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    MEMS麦克风消费电子中***采用的数字/模拟MEMS麦克风,内部包含声学传感MEMS结构与低噪声前置放大器ASIC。关键指标包括灵敏度、信噪比(SNR)、总谐波失真(THD)和AOP(声学过载点)。杭州国磊(Guolei)支持点:GT-AWGLP02AWG板卡生成纯净1kHz正弦激励(THD<-122dB);高分辨率Digitizer采集输出信号,计算SNR与THD;支持I²S/PDM等数字音频接口协议测试;可进行多颗麦克风并行测试(512Sites),满足手机厂商大批量需求。压力传感器(气压/差压/***压力)用于可穿戴健康监测(如血氧估算)、汽车胎压监测(TPMS)、工业过程控制等。其ASIC需处理pF级电容变化,并具备温度补偿与校准功能。杭州国磊(Guolei)支持点:PPMU施加精确偏置电压并测量微安级工作电流;AWG模拟不同压力对应的电容激励信号;Digitizer采集校准后数字输出(如I²C读数),验证线性度与零点漂移;支持高低温环境下的参数漂移测试(配合温控分选机)。 国磊GT600支持循环执行睡眠-唤醒测试,实时采集功耗数据并自动生成报告,提升测试效率与可重复性。GEN3测试系统参考价

国磊GT600凭高精度参数测量、多域电源控制与可编程软件平台,支持从90nm到7nm主流工艺节点电源门控测试。广东高阻测试系统

在“双碳”目标与数据中心PUE限制日益严格的背景下,AI芯片的能效比(TOPS/W)已成为核心竞争力。GT600集成高精度PPMU(每引脚参数测量单元),支持从nA级静态漏电到数安培动态电流的全范围测量,并具备微秒级瞬态响应能力,可精细捕捉电压塌陷、浪涌电流等关键电源事件。这一能力使芯片设计团队能在测试阶段绘制详细的功耗-性能曲线,优化电源门控策略、时钟门控逻辑及低功耗模式切换机制。对追求***能效的国产AI加速器而言,GT600不仅是验证工具,更是“每瓦特算力”的精算师,助力中国AI芯片在全球绿色计算浪潮中占据先机。广东高阻测试系统

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高同测能力加速智能驾驶芯片量产进程。智能驾驶芯片往往需要大规模部署于整车厂供应链中,对测试效率和成本控制极为敏感。杭州国磊GT600支持比较高512 Sites的并行测试能力,意味着可在单次测试周期内同时验证数百颗芯片,极大缩短测试时间、降低单位测试成本。这种高同测(High Parallel Test)特性对于满足车规级芯片动辄百万级出货量的需求至关重要。此外,其开放式GTFY软件平台支持工程模式与量产模式无缝切换,便于在研发验证与大规模生产之间灵活调配资源,确保智能驾驶芯片在严格的时间窗口内完成认证与交付。国磊GT600每通道集成PPMU,支持HBM相关I/O引脚的漏电流(Leakage)...

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