GEN3测试系统按需定制

作为国产**测试装备的**，GM8800多通道绝缘电阻导电阳极丝测试系统由杭州国磊半导体设备有限公司自主研发，具备强大的电化学迁移（CAF）试验能力。该系统可在8秒内完成全部256通道的快速扫描与电阻计算，支持每15ms完成单通道测试，***监控离子迁移过程中电阻值的变化，有效判断绝缘劣化趋势。GM8800提供1~600分钟可调的测试间隔，测试持续时间**长可达9999小时，配合UPS断电保护（30/60/120分钟可选），确保长时间测试的可靠性。其数据采集参数包括采样时间、运行时间、电阻、电流、施加电压、温度与湿度，用户可通过功能强大的软件系统进行实时分析与远程监控，实现电脑与移动终端同步操作。与价格高昂的英国GEN3设备相比，GM8800在测试效率、系统集成度和本地服务支持方面具备明显优势，是中**半导体和电子制造企业实现高质量、低成本测试的理想解决方案。长时间稳定运行，支持1–1000小时持续测试，可靠性高。GEN3测试系统按需定制

AI眼镜SoC普遍采用40nm以下工艺，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块，用于麦克风阵列信号采集、骨传导音频输出与电源稳压。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器（THD-122dB，SNR110dB）与20/24bit分辨率Digitizer，可用于语音前端信号链的INL、DNL、THD、SNR等参数测试，确保AI语音识别输入的准确性。其高精度浮动SMU板卡支持宽电压范围输出，可用于LDO负载调整率、PSRR及上电时序验证，保障音频与传感模块的电源稳定性。GT600的模块化16插槽架构支持数字、模拟、混合信号板卡混插，实现从NPU到传感器接口的一站式测试，避免多设备切换带来的数据割裂。上海CAF测试系统哪家好国磊GT600SoC测试机可验证电源门控（PowerGating）开关的漏电控制效果。

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发推出CAF测试系统GM8800。系统集成±100V内置电源与3000V外置高压模块，采用三段式步进电压技术：0-100V区间0.01V微调、100-500V步进0.1V、500-3000V步进1V。电压精度达±0.05V（1-100VDC），结合100V/2ms超快上升速度，精细模拟电动汽车电控浪涌冲击。1MΩ保护电阻与1-600秒可编程稳定时间，有效消除容性负载误差。测试范围覆盖10⁴-10¹⁴Ω，其中10¹⁴Ω极限测量精度±10%，为SiC功率模块提供实验室级绝缘验证方案。

    AI加速芯片（如思元系列）专为云端推理与边缘计算设计，**诉求是“高算力密度、***能效比、毫秒级稳定响应”。这类芯片往往集成数千个AI**与高速互联总线，测试复杂度高、功耗敏感、量产规模大，传统测试设备难以兼顾效率与精度。国磊GT600凭借512站点并行测试能力，可同时对512颗芯片进行功能与参数验证，极大缩短测试周期，摊薄单颗芯片成本——这对动辄数万片出货的数据中心级芯片而言，意味着数千万级成本优化。在功耗控制上，国磊GT600的PPMU单元可精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的静态与动态电流，结合FVMI（强制电压测电流）模式，验证芯片在不同电压域下的功耗表现，确保其在7x24小时运行的数据中心中实现“每瓦特算力比较大化”。同时，其高精度TMU（时间测量单元，10ps分辨率）可检测AI**间数据同步的时序抖动，避免因时钟偏移导致的推理错误或延迟波动，保障AI服务的稳定低时延。 国磊GT600利用高精度边沿（100ps）和TMU测量时序窗口进行时序与动态性能测试，建立/保持时间测试。

杭州国磊半导体设备有限公司凭借深厚的行业经验与技术积淀，推出的GM8800多通道绝缘电阻导电阳极丝测试系统是国内**半导体测试装备的重大突破。该系统具备1~3000V宽电压输出、比较高256通道同步测试、10^4~10^14Ω超宽阻值测量范围和高达±3%~±10%的测量精度，支持实时电流检测与全参数监控，其软硬件高度集成，提供丰富的数据接口和远程控制功能。GM8800不仅满足IPC、JEDEC等相关标准要求，更在多项性能指标上超越进口同类产品如英国GEN3，尤其在多通道扩展能力、定制化服务及总体拥有成本方面表现突出。杭州国磊公司以“为半导体产业发展尽绵薄之力”为使命，通过GM8800等先进测试系统，持续为集成电路、功率器件、新能源、医疗电子等领域客户提供高可靠、高性能、低成本的全流程测试解决方案，成为中国半导体测试行业国产替代的中坚力量。国磊GT600每通道集成PPMU，支持nA级电流分辨率，可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠（或关断模式下静态漏电流。国产替代PCB测试系统供应商

国磊GT600通过SMU或Digitizer监测目标电源域电压，若在门控关闭后电压仍维持非零值，表明电源未真正切断。GEN3测试系统按需定制

    国产手机自研芯片体系——包括手机SoC（如麒麟系列）、服务器芯片（如鲲鹏）、AI加速芯片（如昇腾Ascend）——不仅是产品竞争力的**，更是中国半导体自主可控的战略支点。这些芯片高度集成、性能***、功耗敏感，对测试设备的全面性、精度、效率和灵活性提出前所未有的挑战。国磊GT600SoC测试机，正是为这类**国产芯片量身打造的“全能考官”。国磊GT600不仅能验证手机SoC的CPU/GPU的基础逻辑功能，更能通过可选配的AWG（任意波形发生器），模拟真实世界的模拟信号，精细测试ISP图像处理单元对摄像头输入信号的响应质量，确保拍照清晰、色彩准确；通过高精度TMU（时间测量单元，精度达10ps），验证5G基带芯片的信号时序与抖动，保障通信稳定低延迟；通过每通道PPMU，检测NPU在待机与高负载下的微小漏电流，确保AI算力强劲的同时功耗可控。 GEN3测试系统按需定制