在晶圆切割的批量一致性控制方面，中清航科采用统计过程控制（SPC）技术。设备实时采集每片晶圆的切割尺寸数据，通过SPC软件进行分析，绘制控制图，及时发现过程中的异常波动，并自动调整相关参数，使切割尺寸的标准差控制在1μm以内，确保批量产品的一致性。针对薄晶圆切割后的搬运难题，中清航科开发了无损搬运系统。采用特制的真空吸盘与轻柔的取放机构，配合视觉引导，实现薄晶圆的平稳搬运，避免搬运过程中的弯曲与破损。该系统可集成到切割设备中，也可作为单独模块与其他设备对接，提高薄晶圆的处理能力。针对柔性晶圆，中清航科开发低温切割工艺避免材料变性。常州碳化硅半导体晶圆切割划片
GaN材料硬度高且易产生解理裂纹。中清航科创新水导激光切割（WaterJetGuidedLaser），利用高压水柱约束激光束，冷却与冲刷同步完成。崩边尺寸<8μm，热影响区只2μm，满足射频器件高Q值要求。设备振动导致切割线宽波动。中清航科应用主动磁悬浮阻尼系统，通过6轴加速度传感器实时生成反向抵消力，将振幅压制在50nm以内。尤其适用于超窄切割道（<20μm）的高精度需求。光学器件晶圆需避免边缘微裂纹影响透光率。中清航科紫外皮秒激光系统（波长355nm）配合光束整形模块，实现吸收率>90%的冷加工，切割面粗糙度Ra<0.05μm，突破摄像头模组良率瓶颈。碳化硅晶圆切割测试12英寸晶圆切割中清航科解决方案突破产能瓶颈，良率99.3%。
8英寸晶圆在功率半导体、MEMS等领域仍占据重要市场份额，中清航科针对这类成熟制程开发的切割设备，兼顾效率与性价比。设备采用双主轴并行切割设计，每小时可加工40片8英寸晶圆，且通过优化机械结构降低振动噪声至65分贝以下，为车间创造更友好的工作环境，深受中小半导体企业的青睐。晶圆切割工艺的数字化转型是智能制造的重要组成部分。中清航科的切割设备内置工业物联网模块，可实时采集切割压力、温度、速度等100余项工艺参数，通过边缘计算节点进行实时分析，生成工艺优化建议。客户可通过云端平台查看生产报表与趋势分析，实现基于数据的精细化管理。
半导体晶圆的制造过程制造过程始于一个大型单晶硅的生产（晶锭），制造方法包括直拉法与区熔法，这两种方法都涉及从高纯度硅熔池中控制硅晶体的生长。一旦晶锭生产出来，就需要用精密金刚石锯将其切成薄片状晶圆。随后晶圆被抛光以达到镜面般的光滑，确保在后续制造工艺中表面无缺陷。接着，晶圆会经历一系列复杂的制造步骤，包括光刻、蚀刻和掺杂，这些步骤在晶圆表面上形成晶体管、电阻、电容和互连的复杂图案。这些图案在多个层上形成，每一层在电子器件中都有特定的功能。制造过程完成后，晶圆经过晶圆切割分离出单个芯片，芯片会被封装并测试，集成到电子器件和系统中。切割刀痕深度控制中清航科技术达±0.2μm，减少后续研磨量。
晶圆切割是半导体封装的中心环节，传统刀片切割通过金刚石砂轮实现材料分离。中清航科研发的超薄刀片（厚度15-20μm）结合主动冷却系统，将切割道宽度压缩至30μm以内，崩边控制在5μm以下。我们的高刚性主轴技术可适配8/12英寸晶圆，切割速度提升40%，为LED、MEMS器件提供经济高效的解决方案。针对超薄晶圆（<50μm）易碎裂难题，中清航科激光隐形切割系统采用红外脉冲激光在晶圆内部形成改性层，通过扩张膜实现无应力分离。该技术消除机械切割导致的微裂纹，良率提升至99.3%，尤其适用于存储芯片、CIS等器件，助力客户降低材料损耗成本。中清航科切割道检测仪实时反馈数据，动态调整切割参数。无锡半导体晶圆切割划片
中清航科推出晶圆切割应力模拟软件，提前预判崩边风险。常州碳化硅半导体晶圆切割划片
针对晶圆切割过程中的静电防护问题，中清航科的设备采用全流程防静电设计。从晶圆上料的导电吸盘到切割区域的离子风扇，再到下料区的防静电输送轨道，形成完整的静电防护体系，将设备表面静电电压控制在50V以下，有效避免静电对敏感芯片造成的潜在损伤。中清航科的晶圆切割设备具备强大的数据分析能力，内置数据挖掘模块可对历史切割数据进行深度分析，识别影响切割质量的关键因素，如环境温度波动、晶圆批次差异等，并自动生成工艺优化建议。通过持续的数据积累与分析，帮助客户不断提升切割工艺水平，实现持续改进。常州碳化硅半导体晶圆切割划片
