测量振荡微悬臂的振幅或相位变化，也可以对样品表面进行成像。摩擦力显微镜摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。一般接触模式原子力显微镜（AFM）中，探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描（或样品在探针下扫描）。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器，由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值（A+B）-（C+D）得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定，也就是微悬臂形变量恒定，从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中，探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中，（A+C）-（B+D）这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减（增加摩擦力导致更大的扭转）。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。茂鑫代理徕卡品牌光学仪器,包括徕卡显微镜,徕卡金相显微镜,徕卡体视显微镜。济南全新显微镜价位
如果您想要研究晶体结构，徕卡偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，徕卡正置偏光显微镜DM750P都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。徕卡偏光显微镜DM750P徕卡偏光显微镜的特点：1、无应力光学部件，因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件；2、LED照明至关重要，因为这种照明能够均匀照亮样品，并具有恒定的色温；3、偏光镜帮助您看到双折射，旋转台帮助您对准样品和光轴；4、您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器；5、LED可帮助您营造安静无干扰的工作环境，因为没有冷却风扇在周围产生噪。绍兴官方显微镜哪个牌子好徕卡显微镜-Leica徕卡显微镜-茂鑫实业(上海)有限公司。
一、什么是金相显微镜？金相学是一种研究金属、矿石等内部结构的学科。故金相显微镜是以观测金属、合金、矿石等内部结构的显微镜，多用于半导体、电子、集成电路等的研究及检验。金相显微镜利用无穷远成像系统，成像清晰，采用平场消色差的物镜以及大视角目镜，金相显微镜具有良好的组织鉴别能力。二、金相显微镜怎么选？选择金相显微镜，成像的清晰度是关键。清晰的成像除了考虑高分辨率外，还需考虑色还原性能好、高亮度、高反差这三个方面。当然，除了性能方面，显微镜的材质、内部构造等都是决定显微镜耐久性的标志。研究型金相显微镜集无陌多项创造于一身，从外观到性能都紧跟国际设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。秉承无陌不断探索不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。
▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源：公开资料5图像类别（1）明暗场衬度图像明场成像（Brightfieldimage）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像（Darkfieldimage）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（2）.辨TEM（HRTEM）图像HRTEM可以获得晶格条纹像（反映晶面间距信息）；结构像及单个原子像（反映晶体结构中原子或原子团配置情况）等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（3）电子衍射图像l选区衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:纳米级微小区域结构特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:纳米级微小区域结构特征。暗视野显微镜 暗视野显微镜由于不将透明光射入直接观察系统，无物体时，视野暗黑。
▽电子衍射光路示意图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]▽单晶氧化锌电子衍射图▽无定形氮化硅电子衍射图▽锆镍铜合金电子衍射图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]6设备厂家世界上能生产透射电镜的厂家不多，主要是欧美日的大型电子公司，比如德国的蔡司（Zeiss）,美国的FEI公司，日本的日立（Hitachi）等。7疑难解答lTEM和SEM的区别：当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来，从而转化为可观察的表面；TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，一般为10到100纳米内，甚至更薄。l简要说明多晶（纳米晶体），单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理：单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网格的格点上。茂鑫显微镜厂家,可提供多种荧光激发片组,满足您荧光观察的不同需求；宁波显微镜厂家哪家好
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这就是观察到横向力和对应形貌图像中峰谷移动的原因。同时，所观察到的摩擦力变化是由样品与LFM针尖间内在横向力变化引起的，而不一定是原子尺度粘附-滑移过程造成的。对HOPG在微米尺度上进行研究也观察到摩擦力变化，它们是由于解离过程中结构发生变化引起的。解离的石墨表面虽然原子级平坦，但也存在线形区域，该区域摩擦系数要高近一个数量级。TEM结果显示这些线形区域包括有不同取向和无定形碳的石墨面。另一关于原子尺度表面摩擦力特征研究的重要实例是云母表面。利用LFM系统研究了氮化硅针尖与云母表面间的摩擦行为，考察了摩擦力与应力、针尖几何形状、云母表面晶格取向和湿度等因素之间的对应关系。云母表面微观摩擦系数与扫描方向、扫描速度、样品面积、针尖半径、针尖具体结构以及高于70%的湿度变化无关。然而，针尖大小和结构以及湿度又会影响云母样品表面摩擦力的.值大小。此外，应力较低时，摩擦力与应力之间有非线性关系，这是由于弹性形变引起了接触面积变化。利用LFM对边界润滑效应的研究已有报道。LB膜技术沉积的花生酸镉单层与硅基底相比，摩擦力.下降了1/10，而且很容易观察到膜上的缺点。具有双层膜高度的小岛被整片移走。济南全新显微镜价位
