高性能GEN测试系统研发

随着科技持续发展，产品的小型化和复杂化使得PCB的布局密度逐渐提高。传统的CAF（导电阳极丝）测试正在面临诸多挑战，主要体现在以下几个方面：1.测试精度不够：随着PCB电路板小型化趋势的加剧，元器件的尺寸和间距不断缩小，使得传统的测试方法（如目检、ICT针床测试等）难以满足高精度测试的需求。飞针测试、X-ray等技术虽然提高了测试精度，但也快到达技术瓶颈，特别是在处理高密度PCB时，仍难以保证测试结果的准确性。2.测试覆盖率不足：由于PCB电路板上集成的元器件越来越多，测试点的数量和测试点之间的距离都受到限制，导致测试覆盖率不足。部分元器件的高度差异大，也增加了测试的难度，使得一些关键区域可能无法得到有效测试。3.测试成本持续下降的空间有限：PCB测试行业已经进入成熟阶段，各种测试仪器和测试方案的成本已经相对较高。在保障检测能力的同时，进一步降低测试成本变得十分困难，特别是在竞争激烈的消费电子领域，成本压力更加突出。CAF测试系统精确检测PCB电路板质量，确保产品可靠性。高性能GEN测试系统研发

CAF（ConductiveAnodicFilament）多通道绝缘电阻导电阳极丝测试设备是一种信赖性试验设备，主要用于评估印制线路板（PCB板）内部在电场作用下，跨越非金属基材迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移（CAF）现象。该测试通过给予印刷电路板一固定的直流电压（BIASVOLTAGE），并经过长时间的测试（1～1000小时），观察线路是否有瞬间短路的现象发生（IONMIGRATION），并记录电阻值变化状况。因此，它也被称为绝缘劣化试验、绝缘阻力电阻试验，或OPEN/SHORT试验。江苏GEN3测试系统价位高阻测试设备，电子元件生产中的隐形守护者。

多通道绝缘电阻导电阳极丝测试结果的应用主要体现在以下四个方面：首先，可以评估产品质量：CAF测试结果可以作为评估电子产品质量的重要依据。通过对比不同批次或不同供应商的产品测试结果，可以了解产品绝缘层的可靠性和耐用性，从而选择性能更优的产品。其次，有助于优化产品设计：根据CAF测试结果，可以分析产品设计中可能存在的问题，如线路布局、绝缘材料选择等。通过优化产品设计，可以减少CAF现象的发生，提高产品的稳定性和可靠性。再次，可以指导生产过程控制：CAF测试结果还可以用于指导生产过程的控制。通过监测生产过程中的关键参数，如温度、湿度、电压等，可以确保生产出的产品符合质量要求。如果发现生产过程中存在异常，可以及时调整生产参数或采取其他措施，以避免CAF现象的发生。此外还可用于持续改进：CAF测试是一个持续的过程，企业应定期进行测试并对结果进行分析。通过持续改进，企业可以不断提高产品的绝缘层质量和可靠性，降低产品失效的风险，提升市场竞争力。

绝缘电阻导电阳极丝测试（CAF测试）的成本主要包括以下几个方面：设备购置成本：进行CAF测试需要特定的测试设备，如导电阳极丝检测仪，这些设备的购置成本相对较高，但考虑到其对于产品质量的保障作用，是必要的一次性投入。运行维护成本：测试设备在长期使用过程中需要定期维护、校准和更新，以确保测试结果的准确性和可靠性。这些运行维护成本包括设备维护费用、校准费用以及可能的设备升级费用。人力成本：进行CAF测试需要专业的技术人员进行操作和数据分析。这些人员的工资、培训费用以及管理成本都是测试过程中需要考虑的人力成本。测试样品成本：CAF测试需要使用实际的PCB样品进行测试，这些样品的成本根据生产批次和测试需求而定。如果测试导致样品损坏，还需要考虑样品报废的成本。测试环境成本：为了模拟CAF发生的实际环境，可能需要建设或租赁特定的测试环境，如高温高湿环境。这些环境的建设和维护也需要一定的成本投入。其他成本：此外，还可能包括测试过程中使用的辅助材料、试剂、电力消耗等成本，以及可能的测试失败导致的重复测试成本。CAF测试系统可模拟多种环境条件下的PCB性能，满足不同测试需求。

多通道绝缘电阻导电阳极丝测试（CAF测试）设备表现出下面这些技术特点。软件设计：CAF测试设备通常配备简单明了的软件设计，能够非常直观地操作，并具备过程中的记录、报告相关的报表功能。高性能：每个通道都单独配有电压/计测电路，可以实现高达16ms的计测间隔，提高了迁移现象的检测能力，对产品品质把控更为精确。同时，一台电脑允许增设400通道，满足大规模测试需求。高信赖性：试验条件和数据可以存储到CF存储卡里，相比PC和HDD，CF存储卡具有更高的信赖性。此外，系统还配备UPS作为备份，确保在瞬间停电或设定时间内的停电情况下，试验仍能继续进行。高便利性：CAF测试设备的主构成组合（CPU/计测/电源）采用slot-in构造，方便进行保养和更换。主机体积小巧，便于放置和移动。灵活的系统构成：用户可以根据需求选择不同通道数的系统构成，并可方便地增加Channel数。使用一台PC理论上可以同时操作系统400CH，还支持ECM-100/100和ECM-100/40的同时操作。高阻测试设备将在航空航天领域得到广泛的应用。金华GEN测试系统研发

实验室引入先进高阻测试仪，提升电子元件检测效率。高性能GEN测试系统研发

规范化的CAF测试对测试步骤有着严格的规范。CAF测试的步骤主要包括样板准备和测试两个阶段。在样板准备阶段，测试人员需要明确、长期、无污染的标识标记样板，目检测试样板是否存在明显缺陷，焊接单股绝缘线，清洁测试线终端。并在特定温度下烤测试板。在测试阶段，测试人员需要按照规定的测试参数和测试标准，在实验室环境下取得初始绝缘电阻，并连接电压和电阻计进行测试。测试过程中，测试人员需要记录各通道的电阻值数据，并根据设定的判定条件进行评估。此外，还会有一些特定的试验。除了基本的CAF测试外，还有一些特定的试验用于评估PCB的CAF耐受能力。例如，导电阳极丝温度试验用于评估PCB材料在高温环境下的CAF问题；湿热循环试验则模拟PCB在实际使用中遇到的不同温度和湿度条件；CAF抗性试验则基于标准的CAF抗性指标来评估PCB的CAF耐受能力。这些特定试验能够更完整地评估PCB的性能和可靠性。不同的测试条件有不同的判定标准。CAF测试的具体条件和判定标准根据不同的应用和需求而有所差异。以某一特定CAF测试为例，测试条件包括温度85℃、相对湿度85%RH、不加偏压的静置测试96小时以及加偏压50VDC的测试240小时。判定标准则依据委托单位的要求。高性能GEN测试系统研发