满足《ASTMC1371》《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等规程要求。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为1.0英寸（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！D&S AERD半球发射率测定仪，可快速测量各种固体表面的发射率。上海明策发射率测量仪电话
校准AE1/RD11．设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到0.00，2．把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3．把探头放在高发射率标定块上，然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。明策科技发射率测量仪技术参数还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。
请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时，我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法，详情敬请咨询我司。
RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um和8-12um）发射率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、操作简单等优点，测量结果保存在SD卡中。产品优势①国内一商用化产品②产品经过工程化考验③隐身涂覆材料红外特性研究④飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估欢迎致电上海明策咨询发射率测量仪。
传统的发射率测量方法可以分为量热法、发射率、辐射能量法。传统的发射率测量方法没有国际标准建立，缺乏国际之间对比缺乏**数据库的建立，未来会逐步建立某领域内的专业数据库，同时推进国际合作和国际比对工作，而且多种方法并存，但是没有一种方法能占主导地位，测量精度都不高。传统方法无论从纯粹理论还是从实际操作（测量平台搭建）等方面都存在一定的难度。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为（）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为（），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。 RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时RD1就能直接读出发射率。手持式发射率测量仪安装
HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。上海明策发射率测量仪电话
通常采用的反射计有热腔反射计、积分球（抛物面、椭球面等）反射计、镜面反射计及测角反射计等。（1）热腔反射计法测量范围通常为1~15μm，精度3%~5%，但该方法的精度在很大程度上取决于样品温度，而且必须很大低于热腔壁的温度，所以不适于高温测量，但此方法能测出样品的光谱及方向发射率，样品制备简便，设备简单，测试周期也较短，故仍得到一定应用。2）积分球反射计主要部分是一个具有高反射率的漫反射表面积分球。工作原理是被测样品置于球心处，入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上，经过球面一次反射即均布在球表面上，探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。然后某一已知反射率的标准样品取代被测样品，重复前述过程。两次测量辐射反射能之比即为反射率系数，被测样品的反射率即为此系数乘以标准样品的反射率。此方法温度范围宽，上限可达5000℃以上。（3）激光偏振法测量精度优于5%，测量时间小于，但只能测量光滑表面的材料发射率。原理为分别测量反射光两个偏振方向的强度比。 上海明策发射率测量仪电话
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