肖特基二极管是通过金属与N型半导体之间形成的接触势垒具有整流特性而制成的一种属-半导体器件。肖特基二极管的基本结构是重掺杂的N型4H-SiC片、4H-SiC外延层、肖基触层和欧姆接触层。中文名碳化硅肖特基二极管外文名Schottkybarrierdiode目录11碳化硅▪碳化硅材料的发展和优势▪碳化硅功率器件的发展现状22碳化硅肖特基二极管▪肖特基接触▪肖特基势垒中载流子的输运机理碳化硅肖特基二极管1碳化硅碳化硅肖特基二极管碳化硅材料的发展和优势碳化硅早在1842年就被发现了,但因其制备时的工艺难度大,并且器件的成品率低,导致了价格较高,这影响了它的应用。直到1955年,生长碳化硅的方法出现促进了SiC材料的发展,在航天、航空、雷达和核能开发的领域得到应用。1987年,商业化生产的SiC进入市场,并应用于石油地热的勘探、变频空调的开发、平板电视的应用以及太阳能变换的领域。碳化硅材料有很多优点,如禁带宽度很大、临界击穿场强很高、热导率很大、饱和电子漂移速度很高和介电常数很低如表1-1。首先大的禁带宽度,如4H-SiC其禁带宽度为eV,是硅材料禁带宽度的三倍多,这使得器件能耐高温并且能发射蓝光;高的临界击穿场强,碳化硅的临界击穿场强(2-4MV/cm)很高。常州市国润电子有限公司为您提供肖特基二极管 。TO220F封装的肖特基二极管MBR20200CT
第2种输运方式又分成两个状况,随着4H-SiC半导体掺杂浓度的增加,耗尽层逐渐变薄,肖特基势垒也逐渐降低,4H-SiC半导体导带中的载流子由隧穿效应进入到金属的几率变大。一种是4H-SiC半导体的掺杂浓度非常大时,肖特基势垒变得很低,N型4H-SiC半导体的载流子能量和半导体费米能级相近时的载流子以隧道越过势垒区,称为场发射。另一种是载流子在4H-SiC半导体导带的底部隧道穿过势垒区较难,而且也不用穿过势垒,载流子获得较大的能量时,载流子碰见一个相对较薄且能量较小的势垒时,载流子的隧道越过势垒的几率快速增加,这称为热电子场发射。[2]反向截止特性肖特基二极管的反向阻断特性较差,是受肖特基势垒变低的影响。为了获得高击穿电压,漂移区的掺杂浓度很低,因此势垒形成并不求助于减小PN结之间的间距。调整肖特基间距获得与PiN击穿电压接近的JBS,但是JBS的高温漏电流大于PiN,这是来源于肖特基区。JBS反向偏置时,PN结形成的耗尽区将会向沟道区扩散和交叠,从而在沟道区形成一个势垒,使耗尽层随着反向偏压的增加向衬底扩展。这个耗尽层将肖特基界面屏蔽于高场之外,避免了肖特基势垒降低效应,使反向漏电流密度大幅度减小。此时JBS广东肖特基二极管MBRF10100CT肖特基二极管 ,就选常州市国润电子有限公司。
在高温下能够稳定的工作,它在功率器件领域很有应用前景。目前国际上报道的几种结构:UMOS、VDMOS、LDMOS、UMOSACCUFET,以及SIAFET等。2008年报道的双RESURF结构LDMOS,具有1550V阻断电压.[1]碳化硅肖特基二极管2碳化硅肖特基二极管SBD在导通过程中没有额外载流子的注入和储存,因而反向恢复电流小,关断过程很快,开关损耗小。传统的硅肖特基二极管,由于所有金属与硅的功函数差都不很大,硅的肖特基势垒较低,硅SBD的反向漏电流偏大,阻断电压较低,只能用于一二百伏的低电压场合且不适合在150℃以上工作。然而,碳化硅SBD弥补了硅SBD的不足,许多金属,例如镍、金、钯、钛、钴等,都可以与碳化硅形成肖特基势垒高度1eV以上的肖特基接触。据报道,Au/4H-SiC接触的势垒高度可达到eV,Ti/4H-SiC接触的势垒比较低,但也可以达到eV。6H-SiC与各种金属接触之间的肖特基势垒高度变化比较宽,低至eV,高可达eV。于是,SBD成为人们开发碳化硅电力电子器件首先关注的对象。它是高压快速与低功率损耗、耐高温相结合的理想器件。目前国际上相继研制成功水平较高的多种类的碳化硅器件。[1]SiC肖特基势垒二极管在1985年问世,是Yoshida制作在3C-SiC上
肖特基二极管是通过金属与N型半导体之间形成的接触势垒具有整流特性而制成的一种属-半导体器件。肖特基二极管的基本结构是重掺杂的N型4H-SiC片、4H-SiC外延层、肖基触层和欧姆接触层。中文名碳化硅肖特基二极管外文名Schottkybarrierdiode目录11碳化硅▪碳化硅材料的发展和优势▪碳化硅功率器件的发展现状22碳化硅肖特基二极管▪肖特基接触▪肖特基势垒中载流子的输运机理碳化硅肖特基二极管1碳化硅碳化硅肖特基二极管碳化硅材料的发展和优势碳化硅早在1842年就被发现了,但因其制备时的工艺难度大,并且器件的成品率低,导致了价格较高,这影响了它的应用。直到1955年,生长碳化硅的方法出现促进了SiC材料的发展,在航天、航空、雷达和核能开发的领域得到应用。1987年,商业化生产的SiC进入市场,并应用于石油地热的勘探、变频空调的开发、平板电视的应用以及太阳能变换的领域。碳化硅材料有很多优点,如禁带宽度很大、临界击穿场强很高、热导率很大、饱和电子漂移速度很高和介电常数很低如表1-1。首先大的禁带宽度,如4H-SiC其禁带宽度为eV,是硅材料禁带宽度的三倍多,这使得器件能耐高温并且能发射蓝光;常州市国润电子有限公司为您提供肖特基二极管 ,有需求可以来电咨询!
常用表面贴封装肖特基二极管。贴片肖特基二极管为何取名为"SS"?SCHOTTKY:取首字母"S",SMD:SurfaceMountedDevices的缩写,意为:表面贴装器件,取首字母"S",上面两个短语各取首字母、即为SS,电流小的肖特基是BAT42();BAT54、BAT54A、BAT54C();电流大的肖特基是440A,如:440CMQ030、444CNQ045;超过440A的必然是模块。肖特基的高电压是200V,也就是说,肖特基的极限电压是200V.超过200V电压的也必然是模块。电流越大,电压越低。与可控硅元件不一样。电流与电压成反比(模块除外)。10A、20A、30A标准的有做到200V电压。除此外,都并未200V电压标准。常见贴片封装的肖特基型号BAT54、BAT54A、BAT54C、BAT54S:SOT-23—MBR0520L、MBR0540:SOD-123—SS12、SS14:DO-214AC(SMA)—1ASL12、SL14:DO-214AC(SMA)—1ASK22:SK24:DO-214AA(SMB)—2ASK32:SK34:DO-214AB(SMC)—3AMBRD320、MBRD360:TO-252—3AMBRD620CT、MBRD660CT:TO-252—6AMBRB10100CT:TO-263(D2PAK)—10AMBRB4045CT:TO-263(D2PAK)—40A常见插件封装的肖特基型号MBR150、MBR160:DO-41,轴向,1A1N5817(1A/20V)、1N5819(1A/40V),轴向,DO-411N5820(3A/20V)、1N5822(3A/40V)肖特基二极管 ,就选常州市国润电子有限公司,让您满意,期待您的光临!TO247封装的肖特基二极管MBR3060CT
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巨资对碳化硅材料和器件进行研究。美国部从20世纪90年代就开始支持碳化硅功率器件的研究,在1992年就成功研究出了阻断电压为400V的肖特基二极管。碳化硅肖特基势垒二极管于21世纪初成为首例市场化的碳化硅电力电子器件。美国Semisouth公司研制的SiCSBD(100A、600V、300℃下工作)已经用在美国空军多电飞机。由碳化硅SBD构成的功率模块可在高温、高压、强辐射等恶劣条件下使用。目前反向阻断电压高达1200V的系列产品,其额定电流可达到20A。碳化硅SBD的研发已经达到高压器件的水平,其阻断电压超过10000V,大电流器件通态电流达130A的水平。[1]SiCPiN的击穿电压很高,开关速度很快,重量很轻,并且体积很小,它在3KV以上的整流器应用领域更加具有优势。2000年Cree公司研制出KV的台面PiN二极管,同一时期日本的Sugawara研究室也研究出了12KV的台面PiN二极管。2005年Cree公司报道了10KV、V、50A的SiCPiN二极管,其10KV/20APiN二极管系列的合格率已经达到40%。SiCMOSFET的比导通电阻很低,工作频率很高。TO220F封装的肖特基二极管MBR20200CT