压缩机在承受载荷时会发生微小变形，变形的大小将直接影响零部件之间的装配以及余隙容积等，因此准确测试结构的变形对结构设计验证至关重要。测试与分析结构微变形的方法有很多种[1-8]，传统常用的是千分表（如图1所示）测试，通过机械探针接触被测物体表面，读取表盘的指针获得结构的变形量，该方法的精度可以达到1um，但是千分表在使用过程中存在一些缺陷：首先，探针必须与被测物体接触，而对某些复杂结构的待测表面，不太容易将探针伸进去；其次，千分表是靠人工读数，当结构变形比较快时（如振动），人工读数是很难实现的。因此，在这样的背景下，需要开发新的测试方法来解决这些问题。本文应用激光三角位移传感器（如图2所示）一套位移测试系统，该系统很好地解决了千分表存在的缺陷，实现了非接触式快速测试，同时通过数据采集卡和软件系统可以快速记录测试数据，并且在软件里面快速进行数据处理，提取有价值的信息。选择适合自己需求的激光位移传感器需要考虑精度、分辨率、速度、测量范围、工作环境等诸多因素。国产位移传感器的用途
加工-测量-再加工-再测量是非球面加工的必要过程。非球面透镜的高精度检测不仅包括非球面表面形状的检测，还包括非球面中心偏差的测量。要求非球面透镜的形状误差在几厘米到几十厘米的范围内小于1μm。受现有冷加工工艺、车床运动误差、磨削力变形及检测误差的限制，加工的非球面光学元件会产生一些质量缺陷，无法保证跨尺度的产品满足高精度要求。为了使非球面透镜表面形状误差、中心偏差等参数满足设计精度要求，往往需要利用被加工非球面工件的中心偏差检测信息进行多误差校正和补偿加工。位移传感器厂家批发激光位移传感器的测量范围较窄，通常适用于小范围、高精度的测量。
现在的电子设备需要更高效、更小、更快的PCB板，而这些板必须通过使用高度集成的组件变得更加强大。为了确保这些组件在正确的位置上连接，需要使用高精度的测量系统来检测它们的位置。这对传感器提出了一系列挑战，包括需要小的光斑焦点直径、高测量速度和高测量精度。使用非接触高精度的激光位移传感器可以满足这些要求，它们可以检测PCB板和高度集成的组件的位置，以确保它们在正确的高度位置和水平位置上连接。这些传感器可以应用于医疗设备、智能手机和机床等各种电子设备的制造中。
激光三角法测量不仅具有大的偏置距离和大的测量范围，而且测量系统结构相对简单，维护方便，可有效应用于三维曲面的非接触精密测量中；但同时由于其测量精度与被测物体表面结构、特性及环境条件等因素有关，当激光三角法应用于易拉罐罐盖开启口压痕残余厚度测量时，要求测量精度达到1μm，从上面的分析可以看到，由于激光光点尺寸、激光散斑和精细结构对测量精度的影响，导致激光三角法测量结果失去实际的参考价值。所以为了提高测量精度，必须针对罐盖微小刻痕的具体结构选用适当的激光尺寸、尽可能抑制激光散斑及环境因素对测量精度的影响。激光位移传感器可以测量物体的线性位移、旋转角度、倾斜度、弯曲度、振动等参数，具有多种功能。
采用激光三角法测量易拉罐罐盖开启口压痕的残余厚度时，要求不仅能测量生产线上易拉罐罐盖开启口刻痕的残余厚度，而且还要对易拉盖模具的磨损情况进行评估。此时，激光三角法的测量精度除了会受到散斑的影响外，还会受到精细结构对测量精度的影响。激光三角法测量的重要假定是发射光束始终与被测物体表面法线方向一致，约定被测表面上入射光点处的法线与入射光方向不重合时称被测表面发生了倾斜，其夹角称为倾斜角E53。当用激光束照射易拉盖的开启口刻痕的斜面和拐角时，被测物表面与入射光不是垂直的，即被测面发生了倾斜。此时，即便物光点的位移与垂直入射时相同，但由于被测面的倾斜改变了散射光的光场相对于接收透镜的空间分布，使得电荷耦合器件(CCD)上会聚光斑的光能质心的位置相对于垂直入射时发生了改变，因而CCD的输出不再与垂直入射式相同。在此情形下，若仍使用垂直入射时的标定曲线来确认位移，必然会产生误差。这就是精细结构对测量精度的主要影响。激光位移传感器可以通过多种反射板、透镜、精密磁盘、刀具等配套组件实现不同的测量要求。有哪些位移传感器找哪家
激光位移传感器的使用需要注意安全事项，避免将激光束直接照射在人眼上。国产位移传感器的用途
激光位移传感器具有结构小巧、测量速度快、精度高、测量光斑小、抗干扰能力强和非接触式的测量特点，因此在微位移测量领域广泛应用。其测量原理是利用激光单色和准直特性将垂直入射测距面上的激光点通过光学系统将其缩小的实像成像在接收光敏面上。通过计算光斑实际的位移大小，就可以实现对物件位移量的测量。激光位移传感器主要由激光发射、光学成像系统、图像传感器、驱动电路、信号放大处理电路、单片机处理电路和数据输出部分组成。研究激光位移传感器的系统特点和工作原理对于提高其测量精度和稳定性具有重要意义。国产位移传感器的用途
