影像测量仪基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • 徕卡
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
影像测量仪企业商机

影像测量仪的测量过程如图所示。先将待测工件放于工作台上,启动运动控制程序通过运动控制卡来控制X、Y、Z三轴的运动使得它们达到合适的位置,并使待测工件的图像能够清晰的呈现到CCD中,CCD把获得的光信号转变成为电信号,然后通过图像采集卡把被测物体的图像采集到PC机里。然后通过图像处理技术,空间几何运算,运动控制以及对光栅数据的采集与运算来获得被测物体的几何尺寸和对要检测物理量的检测,通过测量软件完成测量工作,得到所想要得到的参数,完成测量工作。


仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,特别是工件摆正功能非常实用;北京影像测量仪检查

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影像测头在二维尺寸测量上具备无可比拟的速度优势,但影像测头也有其不擅长的地方,在三维测量中,测量效率不够高、工件侧面特征无法测量等。由此就出现了多测头集成的需求,综合使用影像测头、接触式测头、激光测头和白光测头等,可针对不同的工件及不同的测量需求,选择合适的测量方式,以便提供比较好的测量精度以及比较好的测量效率。在二维尺寸的大批量检测时,可使用影像测头;在测量复杂工件侧壁,而对效率要求又不高的情况下,可选择接触式测量:在复杂工件的三维测量中,如果对效率要求很高,可使用白光测头或激光测头。苏州二次元影像测量仪茂鑫影像测量仪采用彩色CCD摄像机;

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    坐标测量机是随着计算机技术发展起来的现代化几何量测量设备,其特点是通过机械方法构成三维实体坐标系,以探头探测被测样品表面点,获得点的坐标值。以被测样品表面点集的坐标计算样品在空间的位置和几何特性。为了适应不同的需要,许多不同原理的坐标测量机探头得到开发。探头根据测量方法分为接触式探头和非接触式(光学)探头。光学探头中又分为一维光学探头和二维光学探头(影像探头)。影像探头采用光学成像系统和图像分析软件,利用图像提取被测样品表面边界点的坐标集,计算各种参数。影像探头坐标测量机与传统光学仪器的主要差别在于,传统光学仪器需要调整被测样品的测量线对准仪器基准进行测量。例如:测量圆的直径,传统光学仪器利用Y轴示值找到圆在X轴方向的直径位置,测量圆的直径。而影像探头坐标测量机则可以在圆周上任意采样n个点坐标,计算圆的直径和中心坐标。

    影像测量仪的特点:影像测量仪,通过捕捉工件表面影像的边缘,进行图像处理,获得影像几何要素的数据。影像特征点在测头坐标系中的坐标(x',y')与探头参考点在坐标测量机基础坐标系中的坐标(x",y")合成,构成被测点坐标(X,Y)。作为光学成像探头,成像光路质量、成像器件的质量、照明的强度、照明的均匀性、被测物体的颜色和、质地、阈值的大小、灰尘的影响等,均会对测量结果造成影响。成像光路质量,指受影像探头采用的光学镜头、镜头安装系统等影响下的成像质量。这些影响通常会引起枕形歧变或桶形歧变,梯形歧变,成像锐度下降等问题。图片当照明强度变化时,由于阈值保持不变,信号边沿的变化影响测量结果(图4a),而成像锐度的变化,也会使测量结果不同。 茂鑫供应影像测量仪欢迎您的来电选购。

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影像测量仪的计量特性和评定方法:根据影像测量仪的工作原理和影像探头的误差特点,中国计量科学研究院参照德国标准起草的《光学探头坐标测量机校准规范》,对影像探头规定了多点测量的探测误差、成像歧变的探测误差和照明影响的探测误差。与接触式坐标测量机一样,影像测量仪也需要评定长度测量示值误差。所谓多点测量的探测误差与接触探头坐标测量机的探测误差比较接近:标准圆图形上通过多次局部采样,获得标准圆的信息,组合计算圆的参数,反映了影像系统采样各向异性引人的误差、坐标测量机运动误差等。影像测量仪适用于钟表、螺丝、弹簧、仪器仪表、齿轮、凸轮等应用领域。黄山影像测量仪售后

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而成像歧变的探测误差则采用标准圆在仪器视场中完整成像,圆形影像直径占视场边长的约2/9,并且对影像在视场内9个点进行测量,计算其圆心坐标的变化。成像歧变的探测误差反映了成像光路造成的歧变、成像元件刻划不均匀造成的误差,坐标测量机运动误差等对测量结果造成的影响。由图知道,照明亮度、彗差和阈值等均会对测量结果产生影响。使用规定的参数测量同样大小的、颜色互补的2个圆,得到的直径差说明测量参数的影响。特定测量任务的示值误差:对于影像测量仪,同样需要校准长度测量示值误差。对于二维长度测量,使用的标准器是刻线尺。对于Z轴,使用量块。北京影像测量仪检查

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