测量MIPI测试检查

MIPI D-PHY物理层自动一致性测试

对低功耗高清显示器的需求，正推动着对高速串行总线的采用，特别是移动设备。MIPI D-PHY是一种标准总线，是为在应用处理器、摄像机和显示器之间传送数据而设计的。该标准得到了MIPI联盟的支持，MIPI联盟是由多家公司（主要来自移动设备行业）组成的协会。该标准由联盟成员使用，而一致性测试则在保证设备可靠运行及各厂商之间互操作方面发挥着重要作用。自动测试系统采用可靠的示波器和探头，帮助设计人员加快测试速度，改善可重复性，简化报告编制工作。 数字示波器使用及MIPI-DSI信号测量;测量MIPI测试检查

根据D-PHY的CTS的要求，D-PHY的发送信号质量测试主要应该包含以下测试项目:

(1)数据线的LP信号质量测试:包含数据信号在LP模式下的高电平、低电平、上升时间、斜率等。

(2)时钟线的LP信号质量测试:包含时钟信号在LP模式下的高电平、低电平、上升时间、斜率等。

(3)数据线的HS信号质量测试:包含数据信号在HS模式下的差分电压、单端电压。共模电压、上升时间等。(4)GlobalOperation的测试:由于从LP模式切换到HS模式以及HS模式下数据传输完成后退出到LP模式都有一定的时序要求，这部分测试项目有时又称为GlobalOperation的测试项目，其中一些相关时序参数的定义

(5)时钟线的HS信号质量测试:测试项目与数据线的HS信号质量测试项目类似。

(6)HS模式下时钟和数据线间的时序关系测试:包括在HS模式的数据有效前时钟应该提前的准备时间、HS数据传输完后时钟应该保持的时间、数据和时钟信号间的时延等。 设备MIPI测试故障时序测试：测试MIPI接口的信号时序是否符合规范，包括时钟频率、数据延迟、数据速率等；

定义工业物联网

IIoT设想了高度数字化的工业流程，这些流程将通过使用相连的机器和其他设备来收集和共享数据。使用实时分析，数据可用于更的工业流程中，以主动解决生产和供应问题，提高效率，增强物流并响应新需求。

5G，人工智能（AI），大数据分析，云计算，机器视觉和机器人等技术推动着市场的增长。通过连接物理世界和数字世界，IIoT可以监控和优化整个工业流程和更的供应链。

IIoT中MIPI规范的优势

MIPIAlliance开发了接口，用于连接电子设备中的嵌入式组件（相机，显示器，传感器，通信模块）。MIPI规范，一致性测试套件，调试工具，软件和其他资源使开发人员可以创建创新的连接设备。

该组织的重点是设计和推广硬件和软件接口，以简化从天线和调制解调器到设备和应用处理器的设备内置组件的集成。MIPIAlliance精心设计其所有规格，以满足移动设备所需的严格操作条件：高带宽性能，低功耗和低电磁干扰（EMI）。

MIPI D-PHY的接收端容限测试

除了对于D-PHY设备的发送的信号质量有要求以外，MIPI协会还规定了对于接收端的容限要求，D-PHY的CTS规定的接收端的测试项目主要包含以下几个部分。

(1)LP信号电平和时序的判决容限(GROUP1:LP-RXVOLTAGEANDTIMINGREQUIREMENTS):其中包含了被测件对于LP信号高电平、低电平的判决阈值和容限对于脉冲宽度的判决容限测试等。(TestIDs:2.1.1，2.1.22.1.3,2.1.4,2.1.5.2.1.6，2.1.7，2.1.8)

(2)LP状态下的指令时序判决容限(GROUP2:LP-RXBEHAVIORALREQUIREMENTS):其中包含了被测件在LP状态下对于初始化、唤醒、Escape模式切换指令时序的判决容限测试等。(TestIDs:2.2.1，2.2.2,2.2.3，2.2.4，2.2.5,2.2.6,2.2.7，2.2.8) MIPI D-PHY的信号质量的测试方法；

克劳德高速数字信号测试实验室

MIPID-PHY信号质量测试

MIPID-PHY的信号质量的测试方法主要参考MIPI协会发布的CTS(D-PHYPhysicalLayerConformanceTestSuite)。要进行MIPI信号质量的测试，首先要选择合适带宽的示波器。按照MIPI协会的要求，测试MIPID-PHY的信号质量需要至少4GHz带宽的示波器。为了提高更好测试的效率，测试中推荐采用4支探头分别连接clk+/clk-和data+data一信号进行测试，对于有多条Lane的情况可以每条数据Lane分别测试。 MIPI 速率和帧率的关系;湖北MIPI测试HDMI测试

MIPI接口一致性测试 MIPI物理层测试 MIPI接口测试；测量MIPI测试检查

2，MIPID-PHY测试项目

(1)DataLaneHS-TXDifferentialVoltages

(2)DataLaneHS-TXDifferentialVoltageMismatch

(3)DataLaneHS-TXSingle-EndedOutputHighVoltages(

4)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltages

(5)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltageMismatchΔV_CMTX(1,0)

(6)DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsBetween50-450MHz

(7)1.3.10DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsAbove450MHz

(8)DataLaneHS-TX20%-80%RiseTime

(9)DataLaneHS-TX80%-20%FallTime

(10)DataLaneHSEntry:T_LPXValue

(11)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPAREValue

(12)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPARE+T_HS-ZEROValue

(13)DataLaneHSExit:T_HS-TRAILValue

(14)DataLaneHSExit:30%-85%Post-EoTRiseTimeT_REOT

(15)DataLaneHSExit:T_EOTValue

(16)DataLaneHSExit:T_HS-EXITValue

(17)HSEntry:T_CLK-PREValue

(18)HSExit:T_CLK-POSTValue

(19)HSClockRisingEdgeAlignmenttoFirstPayloadBit

(ata-to-ClockSkew(T_SKEW[TX])

(21)ClockLaneHSClockInstantaneous:UI_INSTValue

(22)ClockLaneHSClockDeltaUI:(ΔUI)Value 测量MIPI测试检查

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