电子技术的发展，使器件的噪声系数越来越低，放大器的动态范围也越来越大，增益也大有提高，使得电路系统的灵敏度和选择性及线性度等主要技术指标都得到较好的解决。随着技术不断提高，对电路系统又提出了更高的要求，这就要求电路系统必须低相位噪声，在现代技术中，相位噪声已成为限制电路系统的主要因素。低相噪对提高电路系统性能起到重要作用。相位噪声好坏对通讯系统有很大影响，尤其现代通讯系统中状态很多，频道又很密集，并且不断的变换，所以对相噪的要求也愈来愈高。如果本振信号的相噪较差，会增加通信中的误码率，影响载频追踪精度。相位噪声信号源分析仪用于信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真等信号参数的测量。江西APPH系列相噪分析仪相位噪声测量
APPH50/64G相位噪声分析仪和VCO测试仪—输入高达64G，他们是APPH系列中全新上市的高性能相位噪声分析仪和VCO测试仪，其两个不同型号的频率范围分别覆盖了从5MHz到50或64GHz。它的本底噪声低至-190dBc/Hz并提供了一系列相位噪声分析仪必不可少的分析和测量功能，用于评估信号源（晶体振荡器、VCO、发射器、锁相环、频率合成器等，范围从VHF到微波频率），以及有源和无源非自振设备，如放大器或分频器等。这些功能包括相位噪声和加性相位噪声、幅度噪声、脉冲、抖动和艾伦偏差、瞬态分析、VCO表征和频谱监测。APPH系列标配FPGA互相关运算频谱引擎的混合信号系统架构可实现非常高速的信号处理和极低相位噪声测试灵敏度。APPH系列同时内置可编程电源和低噪声调谐电压使该装置极其灵活且易于使用。 河北APPH6040相噪分析仪基带噪声分析信号源分析仪可以普遍用于测试诸如雷达和通信之类的电子设备中信号源的多个参数。
相位噪声分析仪中的基本相位噪声定义：相位噪声：相位噪声定义为信号中发生的短期相位波动引起的噪声。波动表现为边带，边带表现为扩展到信号两侧的噪声频谱。相位抖动：相位抖动是用于查看相位波动本身的术语，即在任何给定时间，相位位置相对于纯信号的预期偏差。因此，以弧度为单位测量相位抖动。频谱：相位噪声的频谱是指可以从频谱分析仪获得的曲线图。信号频谱将显示中心有用信号，其噪声边带在主载波的两侧延伸。频谱密度：频谱密度将RMS相分布描述为连续函数，对于给定的单位带宽，以RMS相的单位表示。
除了精确的相位噪声测量能力，信号源分析仪还具有AM噪声测量模式和基带测量模式，以有效地调查射频信号源上潜在的导致噪声的原因。在射频输入端口，可以利用与相位噪声测量相同的连接来测量AM 噪声。通过直流耦合50 欧姆阻抗，在BNC 基带输入端口测量低频率噪声（1 Hz 至100 MHz）。信号源分析仪的频率、功率和直流电源测量功能均进行了调谐，以表征振荡器（从固定振荡器到压控振荡器）的特性。频率、射频功率和直流电流（位于直流电源电压端口）测量可以与直流控制电压或直流电源电压上的电压扫描同步进行。只需要一次测试连接就可以在屏幕上得到每个参数的迹线曲线，可以测量以下参数：1）频率与直流控制（调谐）电压的关系，2）调谐灵敏度（频率与直流调谐电压变化之间的关系），3）频率与直流电源电压的关系，4）频率推移（频率与直流电源供电电压变化之间的关系），5）射频功率与直流控制（调谐）电压的关系，6）射频功率与直流电源电压的关系，7）直流电流（位于直流电源电压端。信号源分析仪具有六个测量功能：相位噪声，幅度噪声，频谱监视，频率功率，瞬态特性和基带噪声。
相噪分析仪的全套测量功能包括： 连续波和脉冲调制信号的相位噪声测量，以表征振荡器，合成器，信号发生器和其他自激振荡装置 连续波和脉冲调制信号的残留相位噪声测量，用于表征放大器，上/下变频器，混频器，分频器和其他非自激组件 连续波信号的幅度噪声测量 时间稳定性测量，以表征由相位噪声或长达几天的长期频率测量得出的艾伦偏差 瞬态分析，可测量分辨率高达16ns的信号瞬变或调制 压控振荡器（VCO）的全自动振荡器特性，包括频率参数，功率，电流消耗，推动和相位噪声 监视单载波信号的频谱。信号源分析仪具有两个单独的信号通道和内置基准源。江西APPH系列相噪分析仪相位噪声测量
相位噪声信号源分析仪可用以测量放大器和滤波器等电路系统的某些参数。江西APPH系列相噪分析仪相位噪声测量
APPH相位噪声分析仪-高达40GHz：1MHz至40GHz的信号源分析仪：APPH是一款高性能相位噪声分析仪和VOC测试仪，其型号范围为1 MHz至7、26或40 GHz。它提供了一整套必不可少的测量功能，用于评估信号源（晶体振荡器，VCO，发射机，锁相环，频率合成器等，范围从VHF到微波频率），以及有源和无源非自激振荡设备，例如放大器或频率。分隔线。带有FPGA交叉频谱引擎的混合信号系统架构可实现非常快速的信号处理和低相位噪声灵敏度。 内置的可编程电源和低噪声调谐电压使该设备极为灵活且易于使用。江西APPH系列相噪分析仪相位噪声测量
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