企业商机
原位加载系统基本参数
  • 品牌
  • Psylotech
  • 型号
  • μTS,xTS
原位加载系统企业商机

扫描电镜原位加载设备的相关应用:1、进行动态观察:如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件,则可以观察相变、断烈等动态的变化过程。2、从试样表面形貌获得多方面资料:因为扫描电子象不是同时记录的,它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。使得扫描电镜除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析,以及通过电子通道花样进行结晶学分析,选区尺寸可以从10μm到3μm。现在扫描电镜已大范围的用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。双相钢原位拉伸试验,针对不同的应变点对双相钢进行SEM实时观测。云南原位加载试验机

云南原位加载试验机,原位加载系统

扫描电镜原位加载设备的相关应用:1、直接观察大试样的原始表面:它能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背散射电子象)。2、观察厚试样:其在观察厚试样时,能得到高的分辨率和很真实的形貌。3、观察试样的各个区域的细节:试样在样品室中可动的范围非常大,可以在三度空间内有6个自由度运动(即三度空间平移、三度空间旋转),这对观察不规则形状试样的各个区域带来极大的方便。云南原位加载试验机扫描电镜原位加载技术是观测材料在拉伸作用下断裂破坏行为很方便、直观的观测设备。

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扫描电子显微镜工作原理:光栅扫描,逐点成像:电子设备发射电子束,电压加速、磁透镜系统汇聚,形成直径约5nm的电子束。电子束在偏转线圈的作用下,在样品上做光栅状扫描,激发多种电子信号。探测器收集电子信号,经过电信号放大器加以放大处理,在显示系统上成像。二次电子的图像信号动态地形成三维图像。组成部分:电子光学系统:组成:电子设备、电磁透镜、扫描线圈和样品室等部件。作用:获得扫描电子束、作为产生物理信号的激发源。

扫描电镜原位加载设备的相关知识点:1、热游离方式电子设备有钨(W)灯丝及六硼化镧(LaB6)灯丝两种,它是利用高温使电子具有足够的能量去克服电子设备材料的功函数(workfunction)能障而逃离。对发射电流密度有重大影响的变量是温度和功函数,但因操作电子设备时均希望能以较低的温度来操作,以减少材料的挥发,所以在操作温度不提高的状况下,就需采用低功函数的材料来提高发射电流密度。2、电子设备的必要特性是亮度要高、电子能量散布(EnergySpread)要小,目前常用的种类计有三种,钨(W)灯丝、六硼化镧(LaB6)灯丝、场发射(FieldEmission),不同的灯丝在电子源大小、电流量、电流稳定度及电子源寿命等均有差异。原位加载装置设计过程包含了机械设计部分。

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SEM原位加载设备的原理:能显示各种图像的信息是由于聚焦的电子束与样品的相互作用而产生的各种信号。相互作用区的线性体积:a.随原子序数的增加而减小;b.随电子束能量的增加而增加;c.电子束与样品的角度关系是倾斜角增加时,相互作用区变小。样品的成分、加速电压都影响相互作用区,一般情况下,相互作用区比束斑大,每种信号从固体发出的空间范围,是决定扫描图像空间分辨能力的重要因素。为了获得较高的信号强度和扫描像(尤其是二次电子像)分辨率,扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移。云南原位加载试验机

将扫描电镜与原位加载台结合,对材料的损伤破坏过程从细,微观角度进行实时观测。云南原位加载试验机

扫描电镜原位加载设备的相关知识点:SEM样品若为金属或导电性良好,则表面不需任何处理,可直接观察。若为非导体,则需镀上一层金属膜或碳膜协助样品导电,膜层应均匀无明显特征,以避免干扰样品表面。金属膜较碳膜容易镀,适用于SEM影像观察,通常为Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜较适于X光微区分析,主要是因为碳的原子序低,可以减少X光吸收。适当的工作距离的选择,可以得到很好的影像。较短的工作距离,电子讯号接收较佳,可以得到较高的分辨率,但是景深缩短。云南原位加载试验机

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