上海插件AOI

除光电传感器外，AOI图像采集过程中照明系统也非常重要，选择比较好光源目的是保证被检测物体的特征区别于其他背景，涉及到光源的光谱特性，光源颜色的色温特性。高效率长寿命，高亮度且均匀的光源是必须考虑的参数，高亮度均匀性好的光源可以提高信噪比，而长寿命高效率则可以提高设备的稳定性，降低工作负荷。照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源，特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。 AOI检测方式分为离线半自动检测和在线自动检测两种形式，从而实现生产制程的过程控制。上海插件AOI

AOI系统集成技术牵涉到关键器件、系统设计、整机集成、软件开发等。AOI系统中必不可少的关键器件有图像传感器（相机）、镜头、光源、采集与预处理卡、计算机（工控机、服务器）等。图像传感器常用的是各种型号的CMOS/CCD相机，图像传感器、镜头、光源三者组合构成了大多数自动光学检测系统中感知单元，器件的选择与配置需要根据检测要求进行合计设计与选型。光源的选择（颜色、波长、功率、照明方式等）除了分辨与增强特征外，还需考虑图像传感器对光源光谱的灵敏度范围。镜头的选择需要考虑视场角、景深、分辨率等光学参数，镜头的光学分辨率要和图像传感器的空间分辨率匹配才能达到比较好的性价比。一般情况下，镜头的光学分辨率略高于图像传感器的空间分辨率为宜，尽可能采用黑白相机成像，提高成像分辨能力。图像传感器（相机）采用面阵或线阵需根据具体情况而定，选型时需要考虑的因素有成像视场、空间分辨率、小曝光时间、帧率、数据带宽等。 上海炉前AOI检测设备存在的主要问题是，当一些检查对象是不可见的，或是在PCB上存在一些干扰使得图像变得模糊或隐藏起来了。

AOI是AutomatedOpticalInspection的缩写，中文翻译是自动光学检测。AOI本身是一种技术，但目前大多指的是AOI设备，即自动光学检测设备。在国外AOI设备已经有一定的历史，AOl技术的主要应用领域包括PCB、FPD、半导体、光伏等多个行业，AOI设备多是在半导体和面板检测领域应用，导致目前AOI已经被默认为半导体和面板自动化检测的代名词，而且更多强调的是贴装、焊锡等表面缺陷的检测。随着技术的发展，已经出现了3D-AOI产品。当然，针对其他行业中的应用，如纺织品、金属等产品的表面检测，我们也可以这些检测设备为AOI设备，只不过目前其他行业的应用暂时没有这么广泛应用，这种共识还没有达成。

运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊接缺陷。PCB板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在线检测方案，以提高生产效率，及焊接质量。通过使用AOI作为减少缺陷的工具，在装配工艺过程的早期查找和消除错误以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段，AOI将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。自动光学检查（AOI为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。AOI是较近才兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。以SMT检测为例，当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。AOI软件运算法则很多，有灰度相关法、边缘识别法、固态建模法、统计外形建模法等。

光源:八侧面多角度高亮条形光源相机：标配2000万CCD全彩工业面阵相机（可选配1200万/2500万/2900万）FOV：400*300mm可检PCBA尺寸：宽度400mm，长度不限；可选配宽度750mm，长度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA独立显卡显存：8G/6G内存/硬盘存储：16GDDR4/2T操作系统：：22寸/，率先对AOI进行变革。采用深度学习算法，解决AOI编程复杂、误报多的行业痛点，为客户提供智能的插件检测方案。公司团队深耕计算机视觉领域、图形、图像领域16余年，拥有20年行业背景。合作客户覆盖工控、电源、电力、家电、汽车电子、医疗电子、消费电子等多个行业。在长期的经营活动中以高效的服务赢得广大客户的信赖及推介。由于电路板尺寸大小的改变提出更多的挑战，越来越多的原设备制造商采用AOI。炉前AOI检测设备

AOI的全称是自动光学检测。上海插件AOI

随着计算机的快速发展，AOI也采用了目前许多成熟的图像分析技术，包括模板匹配法(或自动对比)、边缘检测法、特征提取法(二值图)、灰度直方图法、傅里叶分析法、光学特征识别法等，每个技术都有优势和局限。模板比较法通过获得物体图像，如片状电容或QFP，并用该信息产生一个刚性的基于像素的模板。在检测位置的附近，传感器找出相同的物体。当相关区域中所有点进行评估之后，找出模板与图像之间有Z小差别的位置停止搜寻。AOI系统为每个要检查的物体产生这种模板，通过在不同位置使用相应模板，建立对整个板的检查程序，来查找所有要求的元件。但是由于元件检测图像很少完全匹配模板，所以用两种方法来解决这个问题：可以用一定数量的容许误差来确认匹配的，如果模板太僵硬，可能产生对元件的“误报”;如果模板松散到接受大范围的可能变量，也会导致“漏报”;可以根据同类的众多良品进行标准模板的计算，或者叫“特征元件”，这样可以Zda限度提取该类元件的共性特征，从而降低误报率。上海插件AOI

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