上海布鲁克显微CT

Material2differentsamplesIrregular><regularshapeCavities><nocavitiesMethodSKYSCAN1275Pixelsize:27µmOversizedscanObjectivesDistributionofcrisp,oil,saltandpores3Danalysis3DVolumerenderingQualitativeanalysis

SKYSCAN1275VoxelResolution:27µmScanRotation:360°Voltage:40kVCurrent:120µAFrameAveraging:3RotationStep:0.25°Exposure:100msFilter:NoneScanduration:1h15mExtracomment:OversizedscanScanVolumeDimensions:LBHPixels174014362456Mm46.9838.7766.31 布鲁克的加热台和冷却台可以达到比较高+80ºC或比较低低于环境温度低30ºC的温度。上海布鲁克显微CT

特点：X射线源：涵盖各领域应用，从有机物到金属样品标称分辨率（放大倍数下的像素尺寸）：检测样品极小的细节X射线探测器：3 MP （1,944 x 1,536）有效像素的CMOS平板探测器，高读取速度，高信噪比样品尺寸：适用于小-中等尺寸样品辐射安全：满足国际安全要求供电要求：标准插座，即插即用

布鲁克三维X射线显微镜microCT信息由布鲁克衍射荧光事业部(BrukerAXS)为您提供，如您想了解更多关于布鲁克三维X射线显微镜microCT报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。 上海布鲁克显微CT可变几何系统能在空间分辨率、可扫描样品尺寸、扫描速度、图像质量之间找到完美的平衡。

新品重磅出击！多量程X射线纳米CT系统型号:SKYSCAN2214产地：比利时新型的多量程纳米CT-SkyScan2214完美的解决了样品尺寸多样化与空间分辨率的矛盾，一台设备即可实现从微米到分米尺寸样品的高分辨率扫描。创新性的采用几何放大与光纤放大相结合的两级放大模式，使样品在距离光源很大距离的情况下依然获得亚微米级的分辨率，同时还解决了光学透镜二级放大带来的扫描效率低的问题，用户无需再花费几个小时甚至是数十个小时等待一个结果了。

主要特点及技术指标:§很大程度上保护样品：无需制备样品，无损三维重现§对样品的细节检测能力（分辨率）比较高可达：450nm§比较大扫描样品直径：75mm；比较大扫描样品长度：70mm§自动可变扫描几何系统：根据用户设定的放大倍率，仪器可自动优化扫描几何，找到 快的测试方案，用 短时间，得到高质量数据§全新的100kV 度微焦斑X射线光源，提供更高的光通量和更好的光束稳定性，完全免维护§全新的1100万像素CCD探测器，4000x2670像素，大面积、高灵敏度，1：1偶合无束锥比§6位自动滤片转换器，针对不同样品，可自由选择不同能量，以得到比较好化的实验条件§集成的高精度微调样品台可方便系统获得样品，尤其是小样品的比较好位置§样品腔内置500万像素彩色光学相机可更方便地实时观察样品位置，并随时保存图像§16位自动进样器（可选），可连续测量16个样品。样品会自动被转移到样品台上进行逐个扫描，每个样品可以按照相同的或者特定的策略进行扫描§二维/三维数据分析，面/体绘制软件实现三维可视化， 终结果可输出到手机或者平板电脑上（iOSandAndroid），并导出STL文件用于3D打印XRM根据密度不同来进行区域划分，包括孔隙网络。

布鲁克的XRM解决方案包含收集和分析数据所需的所有软件。直观的图形用户界面结合用户引导的参数优化，既适用于专业用户也适用于新手用户。通过使用全新的GPU加速算法，重建时间被大为缩短。CTVOX、CTAN和CTVOL相结合，形成一个强大的软件套件，支持对模型进行定性和定量分析。

测量软件：SKYSCAN1272–仪器控制、测量规划和收集

重建软件：NRECON–将2D投影图转化成3D容积图

分析软件：1.DATAVIEWER–逐层检查3D容积，2D/3D图像配准 2.CTVOX–通过体渲染显示出真实情况 3.CTAN–2D/3D图像分析和处理 4.CTVOL–面模型的可视化，可被导出到CAD或3D打印。 由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源，SKYSCAN1272的扫描速度比探测器位置固定的系统可快5倍。布鲁克显微CT单价

“扩散”意味着强度没有整体增加或减少，即没有强度信号的产生或破坏：对密度测量有利。上海布鲁克显微CT

高分辨三维X射线显微成像系统━内部结构非破坏性的成像技术眼见为实!这是我们常常将显微镜应用于材料表征的原因。传统的显微镜利用光或电子束，对样品直接进行成像。其他的，如原子力显微镜（AFM），则利用传感器来检测样品表面。这些方法都能够提供样品表面/近表面结构或特性的局部二维图像。但是，是否存在一种技术能实现以下几点功能？☉内部结构三维成像？⊙一次性测量整个样品？⊙直接检测？⊙无需进行大量样品制备，如更换或破坏样品，就能实现上述目标？上海布鲁克显微CT

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