校准AE1/RD1:1.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到，如下图所示.Dothissteponlyifrequired2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上，另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水，确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多，太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝，使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同，我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 D&S AERD半球发射率测定仪，可快速测量各种固体表面的发射率。薄膜发射率测量仪方案
发射率测量仪可用于航天热控涂层所谓的热控涂层简单的说就是两个字—保温，让升上天的那些航空元器件不至于暴露在**温环境下损坏。发射率测量仪这时候就很重要。测量这种航天热控涂层，需要测量涂层的法向发射率、半球发射率、太阳光反射率，以计算涂层的热辐射性能（就是一束太阳光照过来，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，这样就能计算出在不同光照下，涂层大概会维持在什么温度范围，这个就是对航空器件的控温要求的一种保证）。像这种应用的话TESA2000发射率测量仪是很合适的。发射率测量仪可应用于节能建筑、LEED认证等研究都是有用到的。薄膜发射率测量仪方案还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。
AE1/RD1可选配件（用于AE1型发射率计）发射率测量仪适配器—型号AE-AD3。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为1.0英寸（2.54厘米）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。发射率测量仪适配器—型号AE-AD1。AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸（3.8厘米）的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量，或者测量小于直径2.25英寸（5.7cm）的区域。发射率测量仪端口适配器—型号ADP。AE-ADP端口内径为1.5英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸，具有低导热性的材料，大曲率圆柱形表面（>2英寸）粗糙或纹理表面。
发射率测量仪适配器—型号AE-AD3(用于AE1型发射率计)。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为（）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。适配器通过两根尼龙螺丝固定在仪表的位置上。从项圈上，适配器延伸到一个，然后到一个锥形部分，其末端是测量端口。管的内部被高反射和镜面材料覆盖。该反射材料引导检测器和样品之间的热辐射交换，使得仪器被校准以读取样品的发射率。适配器的铝配件也包括在内。它安装在发射探测器上，以便在使用适配器时保持稳定。检测器必须与测量标准块和表面测量的表面保持水平。 价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。
电源:通用交流电源适配器100-240V，50-60Hz，12V直流输出AE1辐射率仪：包括辐射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。可选配件:ModelAE-AD1-测量直径**小可至()的样品。ModelAE-AD3-测量直径**小可至()的样品。ModelAE-ADP-测量适配器，端口内直径为()，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(>2inches)圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料CustomAdapters–定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面BatteryPack–为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。 电池包－为方便客户便携式操作，我们还提供锤电池电池版本。材料发射率测量仪特点
通用交流电源适配器100-240V,50-60Hz, 1 2V直流输出。薄膜发射率测量仪方案
满足《ASTMC1371》《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等规程要求。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为1.0英寸（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！薄膜发射率测量仪方案
上海明策电子科技有限公司是一家从事“电子、计算机软件、仪器仪表、实验室设备（除医疗器械）、机电设备（除特种设备）、电器设备（除承装、承修、承式电力设施）、环保设备”领域内的技术开发、技术咨询、技术服务，工业自动化机械设备安装（除特种设备），电子产品，仪器仪表，实验室设备（除医疗器械）、机电设备及配件，电气设备及配件，环保设备，金属材料及制品，化工原料及产品，五金交电，计算机、软件及辅助设备，通讯器材，日用百货，针纺织品销售，从事货物进出口及技术进出口的公司，致力于发展为创新务实、诚实可信的企业。公司自创立以来，投身于黑体校准源，红外测温仪，高速摄像机，发射率测量仪，是仪器仪表的主力军。明策科技始终以本分踏实的精神和必胜的信念，影响并带动团队取得成功。明策科技始终关注仪器仪表市场，以敏锐的市场洞察力，实现与客户的成长共赢。
